半导体/FPD检查显微镜

奥林巴斯MX显微镜的设计理念是为客户提供最高的操作效率。MX显微镜为用户确保了四个等级的优势：快速入门、简易操作、失败分析和扩展功能。

MX61A

MX61A是一款专门设计的半导体显微镜，可使操作人员以正确的人体工程学姿势进行操作，有利于操作人员在长时间的工作中顺利进行检测，保证了工作的效率和产品一体化。

MX61L/ MX61

MX61L/ MX61, 300 mm/200 mm半导体检查显微镜通过各种观察方法——明视场法、暗视场法、微分干涉法（DIC）、荧光法、红外线法和深紫外线法，保证了卓越的图像分辨率和鲜明度。

MX51

奥林巴斯MX51工业检查显微镜是一款高性价比的显微镜，适用于各种电子元件、晶圆和大型样本的观察需求。

MX-IRP Inspection and Defect

The NEW Olympus Inspection and Defect Review Software is a cost-effective and fully integrated tabletop solution, capable of pre-programmed inspection and defect review for the microelectronics industry.

MX-IR/BX-IR

MX-IR/BX-IR是像透过玻璃似的可透视红外线显微镜。适用于封装芯片、晶圆级CSP/SIP的非破坏检查。

AL120-12

AL120-12晶圆搬送机对应可使用FOUP（装载口）和FOSB，适用于低成本的后期检查。安全且符合人体工程学的设计确保了操作人员在搬送晶圆时（包括薄晶圆和变形晶圆）的效率和安全。

AL120

AL120晶圆搬送机可对应200mm以下晶圆尺寸的硅、化合物晶圆，可以安全高效搬送薄片晶圆，非常适合于前道到后道工程的晶圆检查。