Optical Metrology

KIF-202L

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※中国限定商品です。中国以外の地域では、KIF-20シリーズを販売しております。
KIF-202Lは顕微鏡・光ピックアップなどの製造で培った小径測定技術を用いて開発した小型で使いやすい干渉計です。光通信、ビデオ、情報機器などの光学素子を高精度に測定できます。

Overview
Specifications
Option
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小型・簡単操作
作業現場での使用環境を考慮しているため場所を取らず、操作性も簡単です。
測定倍率は1×、2.5×が可能
測定倍率は2.5×に拡大できるため小さな物の測定に便利です。アパーチャコンバータø60-ø15（オプション）を組み合わせれば最大10倍の拡大が可能です（平面測定時）。
参照レンズはλ/20と高精度
当社加工技術により参照レンズは、λ/20と高精度です。オプションによりλ/30もご用意致します。
豊富なアクセサリ群
豊富なアクセサリを用意しました。干渉縞解析装置（KIF-FU60）を取り付ければ高度な縞解析が可能です。

小型レーザ干渉計 KIF-202L：仕様
項目	KIF-202L
測定方法	フィゾー型干渉方式
口径	ø60（オプション使用時ø6～ø102）mm
被検物の大きさ	ø6～ø102（平面測定時）mm
倍率	1×、2.5×（本体2段切換） 4×、10×（ø60-ø15アパーチャコンバータ使用時）
参照面精度	λ/20（球面及び平面）
光源	He-Ne（632.8nm）レーザ（レーザクラス2製品）
電源	AC100V 50/60Hz
本体外形寸法	220（W）×360（D）×740（H）mm
本体重量	約33kg
標準付属品	9型TVモニタ、5軸調整ステージ

※特注扱いで150mmストローク延長タイプも対応できます。

・	リニアスケール
・	ビデオプリンター
・	防振台
・	減衰フィルター
・	透過測定台
・	透過測定5軸ステージ
・	専用ラック
・	ø60mm－4インチアパーチャーコンバータ
・	ø60mm－ø15ｍｍアパーチャーコンバータ
・	透過測定用球面ミラー（λ／20）
・	透過測定用平面ミラー（λ／20）
・	干渉縞解析装置（KIF-FU60）
・	参照レンズ（口径60mm、λ／20）（F0.6、F0.7、F1.0、F1.5、F2.0、F3.0、F4.0、F6.0）
・	特別仕様参照レンズ（口径60mm、λ／20）（F0.6H、C150、C300、C390、C490、V520、V670、V750）
・	参照平面（口径60mm、λ／20又はλ／30）
	*4インチ参照レンズも多数取り揃えております。

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