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显微镜解决方案
镜片反射率测定仪

显微分光光度计采用了光栅和光线感应器,可进行高速可重复的测量。 可测量多数分光光度计无法测量的曲面和平面微小的点。

USPM-RU III

USPM-RU III反射仪可精确测量当前分光仪无法测量的微小、超薄样本的光谱反射率,不会与样本背面的反射光产生干涉。 是最适合测量曲面反射率、镀膜评价、微小部品的反射率测定系统。

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USPM-RU-W

奥林巴斯的近红外显微分光测定仪USPM-RU-W可以高速&高精细地进行可视光区域至近红外区域的大范围波长的分光测定。由于其可以很容易地测定通常的分光光度计所不能测定的细微区域、曲面的反射率,因此最适用于光学元件与微小的电子部件等产品。

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