KIF-20-DW是一款适用于快速质量检查的干涉仪系统，同样适用于在生产现场对平面或球面的轮廓微观平整度进行数控管理。

1. 标准装备包括装载了干涉条纹数值化软件KIF-FIA的PC
   除了以往的干涉条纹观察，还可以根据干涉条纹来数值化显示像差。
   因为数值数据和画面数据可以保存和打印，所以最适合制造工序内的质量管理。

2. 采用新型参照镜台座
   采用了带槽嵌入式新型参照镜台座，可以防止装拆参照镜时的跌落损伤，并且参照镜的更换也变得简单省时，有益于提高生产效率。

3. 稳定的检查测定
   带有防振功能的高刚性干涉仪本体，充分考虑到生产现场的使用环境，具有优异的环境适应性和操作性。

KIF-FIA主画面

参照镜的装拆