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지질 탐사 및 이수 검층: 휴대용 XRF를 사용한 더 빠른 접근법

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이수 검층

유전 및 가스전 탐사와 개발에서 이수 검층은 지질 조건을 연구하는 데 필수적인 기술입니다. 이수 검층은 시추 중에 지면으로 가져온 암석 조각들을 연구하여 시추공에서 발견된 지질 형성의 상세한 기록(일명 검층 기록)을 만드는 과정을 이릅니다.

시추 중에 다양한 깊이에서 수집된 암석 조각들을 분석하면 검층 기술자가 한 지역의 유전 및 가스전 분포를 이해하는 데 도움이 됩니다. 이 정보는 시추 과정을 알리고 개발 효율성을 높이는 데 사용됩니다.

암석 조각에 대한 분석을 실험실로 전송하지 않고 현장에서 진행하면 이수 검층 기술자는 시추 방향을 실시간으로 최적화할 수 있습니다. 지질 탐사 및 이수 검층 시 현장 분석을 제공하는 기술 중 하나는 휴대용 XRF(HHXRF) 또는 휴대용 XRF(pXRF)라고도 하는 휴대용 X선 형광 기술입니다.

간단히 말해서, 휴대용 XRF 분석은 샘플의 화학 성분에 대한 정성적 및 정량적 정보를 제공합니다. 이 기술은 지질 탐사, 채굴 및 야금 산업에서 일반적으로 사용됩니다.

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원유 및 가스 탐사

기술자는 암석 조각에 존재하는 성분에 대한 정보를 얻고 성분 결합의 특성을 통해 암석학적 특징을 식별하기 위해 지질 탐사 및 이수 검층 시 휴대용 XRF를 사용합니다.

암석학적 조합은 암석층을 알아내거나, 원유 또는 가스의 존재를 식별하거나, 통찰력 있는 분석을 통해 해당 지역의 지층 상태를 평가하는 데 사용할 수 있습니다.

지질 탐사 및 이수 검층 시 휴대용 XRF와 실험실 분석 비교

휴대용 XRF 분석기는 암석 조각 및 코어 샘플 분석 시 정밀성과 사용 편의성을 모두 제공합니다. 기존의 실험실 분석과 비교하여 휴대용 XRF는 다음과 같은 이점이 있습니다.

  • 현장 분석 및 테스트 시 측정 결과 실시간 제공
  • 샘플에 대한 요구 사항이 적은 간편한 샘플 전처리
  • 빠른 화학적 검사 결과로 분석 시간 단축
  • 번거롭고 복잡한 보정 및 유지 관리가 필요 없는 저렴한 소유 비용

PDC 시추, 공기 굴착 및 기타 현대적인 시추 기술이 널리 적용되는 암석 조각의 이수 검층 분야에서, 수집된 암석 조각 샘플은 더욱더 파편화됩니다. 이는 분석을 위해 샘플을 현장 밖으로 가져와야 하는 기존 테스트 방법에 더 큰 과제를 제시합니다. 이 경우 기술자는 복잡하게 샘플에 대한 준비 작업 없이 휴대용 XRF 분석기를 사용하여 현장에서 실시간으로 신뢰할 수 있는 결과를 얻을 수 있습니다.

유전 및 가스전 탐사 - 사례 연구

당사의 엔지니어들은 Vanta™ 휴대용 XRF 분석기(VCA 모델)를 사용하여 샘플을 분석하고 테스트하기 위해 중국 산시성과 간쑤성 경계에 있는 고객을 방문한 적이 있습니다. 당사는 이암, 사암, 마그마암, 변성암과 같은 다양한 암석학적 특성의 암석 조각 샘플을 테스트했습니다. 이 테스트는 암석 조각 샘플에서 미량 성분의 알루미늄(Al), 규소(Si), 철(Fe), 칼슘(Ca) 함량을 분석했습니다.

암석 조각 샘플의 분석 및 테스트 절차

암석 조각 샘플의 분석 및 테스트 절차

암석 조각 샘플의 pXRF 분석

암석 조각 샘플의 휴대용 XRF 분석

암석 조각 샘플의 pXRF 분석과 실험실 분석 비교

Vanta 휴대용 XRF 분석과 실험실 분석을 사용하여 측정한 암석 조각 샘플의 Al, Si, Fe 및 Ca 함량 비교

지질 탐사 및 이수 검층을 위한 휴대용 분석 도구

지질 탐사 및 이수 검층 분야에서 당사의 Vanta 휴대용 XRF 분석기는 다음과 같은 몇 가지 이점을 제공합니다.

  • Vanta 시리즈 분석기는 Axon™ 기술로 구동되므로, 각 분석기가 높은 처리량, 낮은 분해능, 낮은 검출 한계(LOD), 탁월한 결과 재현성을 갖추고 있음을 알 수 있음
  • 현장 조건에 맞게 제작된 각 분석기는 IP55 또는 IP54 방수 및 방진 등급, 군사 표준(MIL-STD-810G)에 준한 낙하 테스트, -10°C~50°C(14°F~122°F)의 넓은 온도 범위 내에서 작동함
  • 간단한 훈련 과정 후 용이하게 작동 가능

지질 탐사, 이수 검층 및 기타 현장 응용 분야의 휴대용 XRF에 대한 자세한 내용은 지금 바로 당사에 문의하세요.

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Application Engineer, Analytical Instruments

Wendy Tan graduated from the University of Manchester, UK, and is now working as an application engineer for analytical instruments at Olympus. In her role, she focuses on application development and provides technical support for X-ray fluorescence (XRF) and X-ray diffraction (XRD) analyzers.

7월 14, 2022
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