반도체&FPD 검사용 현미경

OLYMPUS MX 시리즈 현미경은 고객들에게 최고의 효율성을 제공하기 위해 연구, 제작되었습니다. MX 시리즈 현미경은 4가지의 이로운 점을 제공합니다. 빠른 동작, 손쉬운 조작법, 불량 분석, 다양한 확장성.

MX61A

MX61A는 반도체 검사 전용 현미경으로 사용자가 오랜 시간동안 편안하게 사용할 수 있는 인체공학적인 디자인을 갖추었습니다. 장시간 검사할 수 있고, 작업의 통일성과 생산성을 향상시킬 수 있습니다.

MX61L/ MX61

MX61L(300mm용) / MX61(200mm용) 반도체 검사용 현미경은 명시야,암시야,간이편광(DIC),형광, 적외선 및 자외선을 이용한 다양한 관찰법을 통해 고화질의 선명한 이미지를 제공합니다

MX51

OLYMPUS 산업용 검사 현미경 MX51은 가격대비 활용성이 높은 모델로 보다 편리하고 빠른 관찰이 가능하며, 각종 전자부품, 웨이퍼, 크기가 큰 샘플들의 관찰에 용이하도록 최적화되었습니다.

The NEW Olympus Inspection and Defect Review Software is a cost-effective and fully integrated tabletop solution, capable of pre-programmed inspection and defect review for the microelectronics industry.

MX-IR/BX-IR

OLYMPUS IR 이미징 시스템은 전용 렌즈와 전용 부속품들로 색수차를 보정하고 700 - 1300nm 범위 파장대의 관찰이 가능하도록 제작되었습니다.

AL120-12

AL120-12는 웨이퍼 검사를 손쉽고 효율적으로 하기 위한 장비로, FOUP와 FOSB 타입 모두 사용가능하며 마지막 공정 검사에 알맞는 가격대비 높은 효율성을 지닌 장비입니다. 인체공학적인 디자인과 편리성은 오퍼레이터들이 웨이퍼를 교체할 때 안전하고 편리하게 사용할 수 있으며, 휘거나 얇은 웨이퍼도 대응이 가능합니다.

AL120

AL120 Wafer Handler 시리즈는 실리콘과 컴파운트 반도체 웨이퍼를 카세트로부터 현미경의 스테이지에 안전하게 운송시켜 제품 검사의 작업 시간을 줄여주는 유용한 장비입니다. 인체공학적인 디자인으로 더욱더 사용하기 쉽게 기능적으로 향상시켜 편리성을 증대시켰습니다.