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철근 검사 솔루션

초음파 위상 배열, 와전류 배열 및 X선 형광 분광 기술을 이용하는 철근 검사 시스템.
 

Vanta™ iX In-Line XRF Analyzer

The Vanta iX in-line X-ray fluorescence (XRF) analyzer gives you confidence in your products by automating material analysis and alloy identification on the manufacturing line. Built to operate 24/7 in industrial environments, the system delivers instant results for 100% inspection and continuous quality control.

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BIS PA: 막대 검사 시스템-위상 배열

BIS PA는 위상 배열 기술을 사용하여 원형 및 사각 막대의 전체 체적을 검사합니다. 이 시스템은 막대의 직선도 변화와 무관하게 프로브의 위치를 지속적으로 최적화하는 고유한 '플로팅 헤드' 개념을 기반으로 합니다.

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RBIS: 회전식 막대 검사 시스템

RBIS는 위상 배열 및 배열 와전류 기술을 결합하여 철강괴라고 부르는 대형 원형 막대의 전체 체적 및 표면을 검사합니다. 검사는 철강괴가 회전하는 도중과 검사 헤드를 지지하는 캐리지가 선형 운동하는 도중에 수행됩니다.

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BIS ECA: 막대 검사 시스템-배열 와전류

이 BIS는 배열 와전류(ECA) 기술을 사용하여 원형 및 사각 막대의 전체 표면을 검사합니다. 이 시스템은 막대의 직선도의 변화에 무관하게 ECA 프로브의 위치를 지속적으로 최적화하는 마모 슈를 사용합니다.

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