Phased Array
위상 배열 기계는 정밀한 측정으로 가장 신뢰할 수 있는 결과를 제공합니다. 당사의 다양한 위상 배열 기계는 내부 구조에 대한 정확하고 세부적인 단면 사진을 빠른 속도로 검사하여 생성합니다. 여기에서 귀하가 보유하고 계신 위상 배열 기기와 함께 사용할 수 있는 결함 탐지기, 확장 가능 획득 장치 및 위상 배열 검사 소프트웨어 등 위상 배열 장비 및 도구를 찾아볼 수 있습니다. 이 강력한 도구를 활용하면 확신을 가지고 가장 까다로운 조사를 완료함으로써 정확한 데이터 수집, 시각화 및 초음파 신호 분석을 할 수 있습니다. 당사의 위상 배열 장비 및 위상 배열 소프트웨어 솔루션은 신속한 교정 및 간소화된 사용자 인터페이스로 완전히 통합되어 단시간 내에 설치와 검사를 완료하도록 지원합니다. |
위상 배열 기기
옴니스캔 X3 Series
FOCUS PX
확장 가능한 FOCUS PX 획득 장치와 FocusPC 소프트웨어에는 최신 위상 배열 및 기존 UT 기술이 포함되어 있어 자동화 및 반자동화된 시스템에 쉽게 통합됩니다. C-스캔과 A-스캔 원시 데이터를 생성하고 저장하는 FOCUS PX 및 자체 소프트웨어의 기능 덕분에 이 제품은 검사 후 데이터 분석에 기반하여 검사 결과가 나오는 응용 분야에 가장 적합합니다. 예를 들면 항공우주 산업(복합 적층판), 발전(풍력 블레이드), 수송(차륜), 금속(단조 부품) 등의 분야가 여기에 속합니다.
옵션형 FocusControl, FocusData 및 OpenView 소프트웨어 개발 키트(SDK)는 FOCUS PX 장치와 호환되므로 고객은 자체 응용 프로그램애플리케이션 소프트웨어를 개발할 수 있습니다.
위상 배열 기기 FAQ
위상 배열은 어떤 분야에 사용되나요?
위상 배열 시스템은 기존의 초음파 결함 탐상기가 일반적으로 사용되어 온 거의 모든 테스트 분야에 사용할 수 있습니다.이러한 시스템은 항공우주, 발전, 석유 화학, 금속 강편 및 강관 제품 공급, 파이프라인 건설 및 유지보수, 구조용 금속, 일반 제조를 비롯하여 다양한 산업에서 사용됩니다.위상 배열은 용접 검사, 균열 검사 및 부식 매핑에서 주로 사용됩니다.
위상 배열 시스템의 장점에는 어떤 것이 있나요?
단일 요소 또는 이중 요소 탐촉자를 사용하는 기존 초음파 탐상 검사 시스템과 다르게, 위상 배열 검사 시스템은 다중 요소를 사용합니다.이러한 다중 요소 구성을 통해 하나의 프로브 어셈블리로 빔을 조향하고 초점을 맞추어 스캔할 수 있습니다.따라서 난해한 각도와 복잡한 기하학적 모양을 지닌 구성 요소에 대해 기존 초음파 탐상 검사 장비보다 훨씬 쉽고 정확하게 매핑할 수 있습니다.
위상 배열 기구 자료
FMC/TFM 기본 원리이 기본 원리 동영상에서 FMC/TFM에 대해 자세히 알아보고, 기존의 위상 배열과의 차이점에 대해서도 확인하십시오. | |
VeriPhase 자동화 감지 기술을 사용한 Olympus 위상 배열 데이터당사의 완전 통합형 자동화 위상 배열 용접 분석 소프트웨어로 데이터를 수집하는 속도보다 더욱 빠르게 데이터를 분석할 수 있어 즉각적인 결과를 도출할 수 있습니다. 자세한 내용은 소개 동영상을 시청하십시오. |