Descripción
Una nueva referencia para observaciones bajo luz polarizadaEl microscopio de polarización BX53-P ofrece un rendimiento superior en aplicaciones de luz polarizada mediante la combinación del sistema óptico de corrección infinita UIS2 y un diseño óptico exclusivo. Una amplia línea de compensadores compatibles dota al microscopio de polarización BX53-P de versatilidad suficiente para controlar las observaciones y aplicaciones de medición en prácticamente cualquier campo. |
La óptica UIS2 ofrece excelentes posibilidades de ampliaciónMaximizar las ventajas de la corrección infinita permite que el sistema óptico UIS2 prevenga el deterioro del rendimiento del microscopio, y elimina los factores de magnificación, incluso cuando en la trayectoria de la luz se introducen accesorios de polarización como analizadores, placas retardadoras o compensadores. El microscopio BX53-P también acepta accesorios intermedios disponibles para los microscopios de la serie BX3, como también cámaras y sistemas de creación de imágenes. | |
Estructura zonal de plagioclasa en diorita de cuarzo.
| Textura óptica de MBBA
|
Lente de Bertrand para observaciones de tipo conoscópico y ortoscópicoCon un accesorio auxiliar para la observación conoscópica, el cambio entre una observación de tipo ortoscópico y conoscópico es simple. De tipo enfocable, esta observación permite visualizar claramente los patrones de interferencia del plano focal posterior. La lente de Bertrand es enfocable para visualizar claramente los patrones de interferencia del plano focal posterior. Gracias al tope de campo es posible obtener constantemente imágenes nítidas de tipo conoscópico. |
---|
Amplia variedad de compensadores y placas de onda
Existen seis compensadores diferentes para medir la birrefringencia en secciones finas de rocas y minerales. Los niveles de retraso de medición varían de 0 a 20λ. Para facilitar la lectura de las mediciones y obtener un alto contraste de las imágenes, los compensadores Berek y Senarmont pueden ser usados para cambiar el nivel de retraso en el campo de visión completo.
| ||||||||||||||||||||||
MEASURING RANGE OF COMPENSATORS
For more accurate measurement, we recommend that compensators (except U-CWE2) be used together with the interference fi lter 45-IF546 |
Mínima tensión ópticaNuestros objetivos de luz polarizada reducen la tensión interna al mínimo. Esto significa un valor de factor de extinción (EF) aún más elevado para un óptimo contraste de imagen. |
---|
Platina giratoria robusta y precisaEl mecanismo de centrado y rotación que se encuentra instalado en la platina giratoria permite girar la muestra cómodamente. Además, se ha incorporado un mecanismo de parada por cada 45 grados para obtener medidas precisas. Con la platina opcional de mecanismo dual, es posible efectuar desplazamientos seguros en dos ejes (X e Y). | Platina mecánica dual |
Especificaciones
Método de observación > Campo claro | ✓ |
---|---|
Método de observación > Luz polarizada | ✓ |
Método de observación > Luz polarizada simple | ✓ |
Enfoque > Mecanismo de enfoque > Enfoque de platina | ✓ |
Platina > Mecánica > Platina giratoria de precisión | Rotación: 360 grados |
Condensador > Manual > Condensador polarizador | A. N. 0,9/D. T. 1,3 mm (cristal deslizante 1,5 mm) (de 4X a 100X) |
Tubos de observación > Campo amplio (FN 22) > Trinocular | ✓ |
Tubos de observación > Campo amplio (FN 22) > Trinocular inclinable | ✓ |
Dimensiones (ancho × profundidad × altura) | 274 (A) x 436 (P) x 535 (Al.) mm |
Peso | 16 kg |
Recursos
Nothing matches your criteria. |