用于厚度测量的探头类型

所有通常与超声测厚仪一起使用的探头外壳中都包含一个振动陶瓷晶片，但探头根据不同的设计可分为四大类。

接触式探头：顾名思义，接触式探头在使用时与被测样件直接接触。探头上有一片薄而硬的防磨板，可在正常使用中保护活动晶片不受损伤。使用接触式探头进行测量通常简便易行，而且这类探头是除腐蚀测量以外的大多数普通测厚应用的首选。

延迟块探头：延迟块探头在活动晶片和被测样件之间加入了一个由塑料、环氧树脂或熔融石英材料制成、被称为延迟块的圆柱体。延迟块探头的一个主要用途是测量薄材料，在薄材料的测量中，一定要将激励脉冲的信号与底面回波区分开来。延迟块可用作热绝缘体，使热敏探头晶片免于直接接触高温样件，延迟块还可被塑形或做成曲面，以改善声波耦合到急剧弯曲部位或狭窄空间的效果。

水浸探头：水浸探头使用水层或水槽将声能耦合到被测样件中。这类探头可以对生产线上或处理过程中的移动产品进行检测，可进行扫查测量，还可以优化声波耦合到急转圆角、凹槽或通道的效果。

双晶探头：双晶探头，主要用于测量粗糙、腐蚀的表面。这类探头将独立的发射晶片和接收晶片以小角度安装在延迟块上，以便使声能在被测样件表面以下一定的距离内聚焦。虽然使用双晶探头进行测量获得的结果有时不如使用其他类型探头那么准确，但在腐蚀测量应用中，它们通常能明显表现出更好的性能。

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