相控阵显示解析
本章更进一步地说明创建相控阵图像的方法。特别是进一步解释了需要输入的信息，以及不同相控阵视图类型与实际探头组件和被测工件之间的关系。本章还说明了与相控阵图像相关的典型的A扫描视图。
进行成功检测要考虑的因素
如前所述，要成功完成任何超声检测，需在检测设置中确认许多因素。简言之，要进行正常检测，就需要校准仪器，在校准仪器的过程中需要确认检测材料的特性以及探头的特性。
材料：
- 需设置被测材料的声速，以正确测量反射体在材料中的深度。必须谨慎地选择正确的声束模式（纵波或横波）。压缩垂直声束检测一般使用纵波，而角度声束检测常常会使用横波。
- 在设置中，一般要输入工件厚度信息。在角度声束检测中，厚度信息特别有用，因为借助厚度信息可以得到相对于各个跨的正确深度测量值。
- 在检测非平面的工件时，需要考虑曲率半径。这个曲率可以通过算术方法得到补偿，以得到更精确的深度测量值。
探头：
- 要得到正确的脉冲发生器参数和接收器的滤波器设置，就必须知道探头的频率。
- 必须建立零位偏移，以补偿因耦合、匹配层、布线和电子感应而造成的电气和机械延迟，从而获得正确的厚度读数。
- 为了使用常见的波幅定量技术，需设置由已知反射体产生的波幅响应，并将其作为参考值。
- 需设置声波入射到被测材料中的角度。
- 使用相控阵探头时，需要知道晶片的数量和晶片的间距。
楔块：
- 声波在楔块中传播的速度。
- 楔块入射角度。
- 声束入射点或探头前沿的参考点。
- 相控阵检测中，第一晶片高度偏移。
在常规超声检测中，检测之前必须要对以上所列参数进行设置，以保证得到正确的检测结果。由于单晶探头只有一个固定的孔径，因此入射角度的选择、零位偏移以及波幅校准都只针对单个探头或探头/楔块组合件。每次更换探头或楔块时，都必须重新进行校准。
使用相控阵探头时，用户需遵守这些相同的原则。相控阵检测的主要优势是可以动态改变孔径、焦点和/或角度，实质上是可以一次性使用多个探头。这就需要对相控阵探头的每个状态（一般指聚焦法则）在更多方面进行额外的校准与设置。这样不仅可通过设置好的整体聚焦序列得到准确的波幅和深度测量值，而且相控阵仪器还会生成数据更为准确、可视性更强的图像。
常规检测和相控阵检测的一个主要差别出现在角度声束检测中。在常规UT应用中，输入一个不正确的楔块角度或材料声速会在定位缺陷的过程中产生错误，但是不会影响基本的声波传播（因此不会影响得到的A扫描），因为声波传播只与机械折射因素相关。但是在相控阵应用中，需要输入正确的材料和楔块声速，以及有关探头和楔块的参数，才可以得到正确的聚焦法则，从而通过电子偏转方式以想要的折射角度改变声束的传播方向，创建有效的图像。某些性能更强的仪器还具有探头识别能力，可以自动传输关键性的相控阵探头信息，并利用编排有序的设置库中的信息，帮助用户选择正确的楔块参数。
要为一次相控阵扫查进行设置，一般需为以下参数输入参数值：
探头参数：
频率
带宽
尺寸
晶片数量
晶片间距
楔块参数：
楔块的入射角度
楔块的额定声速
偏移Z = 到第一个晶片中心的高度
步进偏移X = 楔块前沿到第一晶片的距离
扫查偏移Y = 楔块侧面到晶片中心的距离
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