光学测量装置

KIF-20-UW

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KIF-20-UW激光干涉仪是牛顿评价类型的干涉仪系统。该系统适用于快速质量检查和对量产透镜的数控管理。

概览
技术规格
PDF版产品信息

操作简便
将与被检镜片相匹配的镜片适配器安装到载物台上，只需从上面放上被检镜片，即可进行检查。特别适用于相同规格镜片的批量生产现场。
采用新型参照镜台座
采用了带槽式新型参照镜台座，可以防止装拆参照镜时的跌落损伤，并且参照镜的更换也变得简单省时，有益于提高生产效率。
稳定的检查测定
带有防振功能的高刚性干涉仪本体，充分考虑到生产现场的使用环境，具有优异的环境适应性和操作性。

KIF-FIA主画面

参照镜的装拆

激光干涉仪（上置式） KIF-20-UW：规格
测定方法	斐佐型干涉仪
口径	ø60（使用选配件时ø6～ø60）mm
参照镜表面精度	λ/20（球面及平面）
光源	He-Ne激光（632.8 nm）2级激光
映像输出	USB2.0数字输出
焦点	有
调整	有（光斑重合法）
倍率	数码变焦（1～3倍）
主体外形尺寸	干涉仪	360(W)×260(D)×933(H) mm （PC除外）
	光源装置	195(W)×365(D)×98(H) mm
主体重量	干涉仪	约22 Kg （PC除外）
	光源装置	约5.0 Kg
电源电压	AC100-120 V / AC200-240 V、50-60 Hz
工作距离	最大360 mm（因参照镜、被检物不同而异）
干涉条纹观察	将电脑用作显示器
相位计算方式	干涉条纹的形状（条纹二值化方式）
干涉条纹数值化软件的主要功能	・干涉条纹全屏显示功能・干涉条纹目视确认图表显示功能・调整图象显示功能・P-V、RMS、Pwr、AS、Coma、Sa3的显示功能（不能进行±判别及角度判别）・规格值设定及合格判断功能・影面设定功能・单一测定、连续测定功能
干涉条纹测定时的再现性	PV值0.1 λ以下　※基于本公司的测定条件。
干涉条纹测定时间	约1.0秒（根据电脑性能而定）
选配件	・测长装置・带槽嵌入式连接器（螺口式参照镜用）・干涉条纹解析装置（KIF-FU60/KIF-FSA）・参照镜（RF60、F0.6、F0.7、F1.0、F1.5、F2.0、F3.0、 F4.0、F6.0、C150、C300、C490、V520、V670、V750、 APC60-15）1 ・衰减过滤器（AF60） 1: 部分参照镜需要配合带槽式连接器使用。