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洞见博客

UIS2光学物镜如何改进了拉曼光谱技术

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使用拉曼光谱仪拍摄的图像

清晰显示样品颜色、划痕、缺陷和不规则性

在材料科学应用中,UIS2物镜有助于显微镜用户清楚地看到样品的颜色、表面上的划痕和缺陷以及表面的不规则性。这些物镜增强了我们系统的光学性能,如BX53M显微镜,提高了客户的工作效率。有趣但也许并不奇怪的是,我们制造的各种工业和生物UIS2物镜也被纳入到非Evident制造商设计的许多设备中。

碳纳米管的微分干涉观察和矿物的偏振观察

碳纳米管(CNT)的微分干涉(DIC)观察和矿物的偏振观察

对其他公司光学技术的开发和性能产生积极影响

JASCO公司就是一个例子。他们在其拉曼光谱产品中使用了我们的物镜,拉曼光谱产品通常用于材料分析。JASCO公司是一家全球性公司,总部位于日本。自1958年成立以来,该公司一直致力于开发、制造和销售光学分析设备,并开发分析服务。

JASCO公司已将我们的UIS2物镜用于各种拉曼光谱系统中,例如其激光拉曼分光光度计NRS-4500、NRS-5500和NRS-7500。这些仪器内置UIS2物镜,能够进行高性能、高精度的拉曼测量。它们不仅可用于进行定性分析,还可用于多层样品的识别和成像、颗粒识别及化学分布。

JASCO激光拉曼光谱仪NRS 4500和NRS 5500系列

JASCO公司的NRS4500(左)和NRS 5500(右)激光拉曼光谱仪

UIS2物镜配有无限远校正光学元件,简化了设备的光学设计,因为在放大倍率之间进行切换以及在无限远空间添加组件都是可能的,这点尤其受到设计科学仪器的工程师的欢迎。JASCO公司拉曼系统部门的Tsutomu Inoue先生介绍了UIS2物镜为公司的仪器设计带来的好处:

奥林巴斯UIS2无限远校正物镜OEM产品系列

奥林巴斯工业UIS2物镜

UIS2物镜的设计采用了无限远校正光学系统。即使使用转盘切换物镜,激光光斑的焦点位置也会保持不变。在光路中插入光学元件,如偏振镜或波片,不会导致激光光斑位置偏移。因此,即使从光学观察切换到拉曼测量,也可以测量目标位置。

无限远校正光学系统与有限远校正光学系统的对比图

无限远校正光学系统(左图)和有限远校正光学系统(右图)之间的差异

通过协助开发分析仪器业务

除了我们的高品质光学系统,Inoue先生解释道,Evident的服务支持在开发拉曼光谱产品方面也发挥着关键作用。“我们的客户对观察和分析应用产品的需求逐年增加。显微镜的明场、暗场、偏振和微分干涉(DIC)等观察方法已经成为显微分析不可或缺的手段。对于样品的详细分析,重要的是不仅要整合拉曼光谱,还要整合各种信息,如准确的尺寸、形状、颜色和荧光元素。我们经常就独特的观察应用咨询Evident的支持人员,并对他们提出的各种解决方案非常满意,包括附加的装置和定制方案。我们还有一个优势,就是我们的开发场所与Evident公司只有数步之遥,因此我们将继续与Evident合作,我们希望继续进一步发展我们的关系。”

有关将我们的高品质光学元件集成到您的仪器设计中的更多信息,请访问www.olympus-lifescience.com/oem-components/

有关JASCO公司的更多信息,请访问https://www.jasco-global.com

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Sales, Industrial Microscopes

Takuma joined the Industrial Microscope sales team at Olympus Tokyo in 2011. After developing a strong relationship with electronic component manufacturers in Japan, he is currently leading the sales development projects for our laser scanning microscope and digital microscope products.

九月 22, 2022
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