02 juin 2011 可視から近赤外領域で、多様な分光特性を高速で測定 近赤外顕微分光測定機「USPM-RU-W」を発売
顕微分光測定機は、開発・製造現場において、レンズなどの光学素子のコーティングを評価したり、電子基板上の微細なエリアの反射率や膜厚を測定するために用いられる機器です。開発の意図通りの性能になっているか、品質基準を満たしているか、など品質評価をサポートします。
開発の背景
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