Evident LogoOlympus Logo
显微镜解决方案

分析

PRECiV软件 — 针对材料科学优化

GX53显微镜和PRECiV软件可为满足各种行业标准要求的金相分析方法提供支持。通过分步操作指导,用户可轻松快捷地完成样品分析。

> 单击此处了解有关PRECiV的详细信息


颗粒分析 — 计数和测量解决方案

计数和测量解决方案采用高级阈值法,能够可靠地分离目标(如颗粒和划痕)与背景。可使用超过50种不同的参数对样品进行测量或评级,包括形状、大小、位置和像素特性等。

晶界不清晰

原始图像

晶界清晰可辨

常规软件
晶界不清晰

蚀刻钢的微观结构
(原始图像)

PRECiV
晶界清晰可辨


晶粒分类结果

晶粒分类结果


微观结构中的晶粒尺寸

测量晶粒尺寸并分析铝、钢晶体结构(例如铁素体和奥氏体)以及其他金属的微观结构。
支持的标准:ISO、GOST、ASTM、DIN、JIS、GB/T

铁素体晶粒的微观结构

晶粒度截点法解决方案

第二相的晶粒度面积法解决方案

晶粒度截点法解决方案

第二相的晶粒度面积法解决方案


评估石墨球化率

评估铸铁样品(球墨和蠕墨)的石墨球化率和含量。对石墨节点的形态、分布和大小归类。
支持的标准:ISO、NF、ASTM、KS、JIS、GB/T

显示球状石墨结构的延性铸铁

铸铁解决方案

铸铁解决方案


高纯度钢中非金属夹杂物含量的评定

对在恶劣视场采集图像中的非金属夹杂物或手动发现的恶劣夹杂物进行分类。
支持的标准:ISO、EN、ASTM、DIN、JIS、GB/T、UNI

含非金属夹杂物的钢

夹杂物恶劣视场解决方案

夹杂物恶劣视场解决方案


比较样品图像和参考图像

可轻松比较实时或静态图像与自动缩放的参考图像。该解决方案包含符合各种标准的参考图像(也可单独购买更多的参考图像)。支持多种模式,包括实时叠加显示和并排比较。
支持的标准:ISO、EN、ASTM、DIN、SEP

含非金属夹杂物的钢

铁素体晶粒的微观结构

含非金属夹杂物的钢

铁素体晶粒的微观结构


材料解决方案规格

解决方案 支持标准
晶粒度截点法 ISO 643: 2012、JIS G 0551: 2013、JIS G 0552: 1998、ASTM E112: 2013、DIN 50601: 1985、GOST 5639: 1982、GB/T 6394: 2002
晶粒度面积法 ISO 643: 2012、JIS G 0551: 2013、JIS G 0552: 1998、ASTM E112: 2013、DIN 50601: 1985、GOST 5639: 1982、GB/T 6394: 2002
铸铁 ISO 945-1: 2010、ISO 16112: 2017、JIS G 5502: 2001、JIS G 5505: 2013、ASTM A247: 16a、ASTM E2567: 16a、NF A04-197: 2004、GB/T 9441: 2009、KS D 4302: 2006
夹杂物恶劣视场 ISO 4967(方法A): 2013、JIS G 0555(方法A): 2003、ASTM E45(方法A): 2013、EN 10247(方法P和M): 2007、DIN 50602(方法M): 1985、GB/T 10561(方法A): 2005、UNI 3244(方法M): 1980
标准评级图对比 ISO 643: 1983、ISO 643: 2012、ISO 945: 2008、ASTM E 112: 2004、EN 10247: 2007、DIN 50602: 1985、SEP 4505: 1978、SEP 1572: 1971、SEP 1520: 1998
测量涂层厚度 EN 1071: 2002、VDI 3824: 2001

Sorry, this page is not available in your country
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
Sorry, this page is not available in your country