偏光显微镜 BX51-P
Discontinued Products
概览
BX51-P是利用偏光识别样品的不同特性的高级偏光系统显微镜。适用于各向同性、各向异性材料的鉴别，广泛应用于矿物、化工产品，医学、植物学等分析。
UIS2物镜观察到的鲜明影像
能够实现最小光学失真的偏振光用物镜ACHN-P、UPLFLN-P系列产品中选择所需产品。UPLFLN-P系列物镜是能够用于微分干涉观察和包括紫外线激发的荧光观察的通用物镜，能应对包含偏振光观察的多种研究和检查。
*EF值：平行尼科尔和正交尼科尔亮度比较，EF值越高光学失真越少，表明偏振光特性越好。
| 观察影像实例 | |
 石英闪长岩中的斜长石带状结构 |  液晶MBBA(甲氧基的氨基联苯丁基苯胺) |
 UPLFLN-P系列产品 |
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卓越的操作性能和光学性能
操作简便、观察清晰的显微镜机体
彻底追求人机工程学的Y形框架，操作更为舒适，提高了观察效率。极大地降低了长时间观察的疲劳度。
视场数达到了22，与一般视场数为20的显微镜相比，观察的范围增宽了21%。此外，照明系统采用了12 V，100
W明亮的卤素灯，能观察明亮逼真的偏振光影像。
支持更高效的偏振光观察的载物台
带有旋转中心输出机构的旋转载物台，样品可以流畅旋转。此外，每隔45°装有的锁定机构，提高了观察效率。
旋转载物台上装有复式机械载物台，能够控制样品的细微移动。
 旋转载物台 |  复式机械载物台 |
对应高级偏振光观察的附件
偏振光性能优异的附件
 各种补偿板的延迟测量范围 | 全面改良了偏振光用聚光镜和偏振光板的设计，提高了偏振光性能，实现了高EF值*、高对比度的偏振光观察。 |
| 各种补偿板的延迟测量范围 | ||
| 补偿板 | 测量范围 | 主要用途 |
| U-CTB厚型Berek | 0-11,000nm | 较大的延迟测量（R*＞3λ）。（结晶、高分子、纤维、光弹性失真等） |
| U-CBE Berek | 0-1,640nm | 延迟测量（结晶、高分子、纤维、生物体组织等） |
| U-CSE Senarmont | 0-546nm | 延迟测量（结晶、生物体组织等）对比度增强（生物体组织等） |
| U-CBR1 Brace-Kohler 1/10λ | 0-55nm |
微小延迟测量（结晶、生物体组织等）
对比度增强（生物体组织等 |
| U-CBR2 Brace-Kohler 1/30λ | 0-20nm | |
| U-CWE2 石英楔子 | 500-2,200nm | 延迟的近似测量（结晶、高分子等） |
*R表示延迟。
为提高测量精度，建议与干涉滤镜45IF546一起使用。（U-CWE2除外）
鲜明的正像镜影像和锥光镜影像
 锥光镜／正像镜观察单元 | 简单的操作就可以切换正像镜和锥光镜，并且能够对焦锥光镜影像。此外，采用了伯特兰透镜，即使是样本的微小范围，也能观察到逼真的锥光镜影像。 |
使用数码照相机可以记录保存数码图像
三目观察筒可以连接数码照相机。可以保存和记录数码影像，帮助创建检查报告。可从画面质量、功能、操作性等方面选择所需的数码照相机。奥林巴斯图像分析软件是专门为工业显微镜应用程序设计的，拥有直观的操作菜单和高级软件例行程序。用户被授权使用最新的图像分析和管理方案，以满足特定应用程序的需要。
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