Evident LogoOlympus Logo
Mikroskopy

Funkce

Nástroje pro pozorování a analýzu

Špičkové analytické nástroje

Díky univerzálním možnostem pozorování mikroskopů řady MX63 dosáhnete zřetelných a ostrých snímků, ze kterých mohou uživatelé spolehlivě vypozorovat vady ve vzorcích. Nové techniky osvětlení a možnosti pořizování snímků v softwaru PRECiV pro obrazovou analýzu poskytují uživatelům více možností pro vyhodnocování vzorků a dokumentování zjištěných nálezů.


Neviditelné se stává viditelným: pozorování a záznam MIX

Technika pozorování MIX přináší unikátní možnost pozorování kombinací tmavého pole s další metodou pozorování, jako je světlé pole, fluorescenční pozorování nebo pozorování v polarizovaném světle. Pozorování technikou MIX umožňuje uživatelům vidět vady, které by byly klasickými mikroskopy jen těžko pozorovatelné. Kruhový osvětlovač s LED diodou používaný pro pozorování ve tmavém poli nabízí funkci směrového tmavého pole, se kterou je v daný okamžik osvětlen pouze jeden kvadrant. To omezuje halaci vzorku a usnadňuje vizualizaci povrchové textury vzorku.

Struktura polovodičového wafru

Struktura polovodičového wafru – světlé pole

Plus

Struktura polovodičového wafru – tmavé pole

Šipka

Struktura polovodičového wafru – MIX

Vzor integrovaného obvodu je nezřetelný.

Barva wafru není viditelná.

Barva wafru i vzor integrovaného obvodu jsou zřetelně viditelné.

Usazenina fotorezistu na polovodičovém wafru

Usazenina fotorezistu na polovodičovém wafru – Fluorescence

Plus

Usazenina fotorezistu na polovodičovém wafru – tmavé pole

Šipka

Usazenina fotorezistu na polovodičovém wafru – MIX

Samotný vzorek není viditelný.

Usazenina není zřetelná.

Vzor integrovaného obvodu i usazenina jsou zřetelně viditelné.

Kondenzor

Kondenzor – tmavé pole

Šipka

Kondenzor – složený obrázek

Šipka

Kondenzor – MIX

Povrch se odráží.

Několik snímků se směrovým tmavým polem z různých úhlů.

Spojením zřetelných snímků bez halace se vytvoří jeden ostrý obrázek vzorku.


Snadné vytváření panoramatických snímků: okamžitá funkce MIA

Díky funkci MIA (Multiple Image Alignment) mohou uživatelé snadno a rychle spojit snímky dohromady jednoduše pomocí otočných voličů XY na ručním stolku – není zapotřebí motorizovaný stolek. Software PRECiV využívá funkci rozeznání vzorů k vytvoření panoramatických snímků a nabízí tak uživatelům širší zorné pole.

Snadné vytváření panoramatických snímků: okamžitá funkce MIA

Obraz mince s použitím okamžité funkce MIA


Vytváření snímků se zaostřením na každý jeho bod: EFI

Funkce EFI (Extended Focus Imaging) softwaru PRECiV zachycuje snímky vzorků, jejichž výška přesahuje hloubku ostrosti objektivu, a automaticky je poskládá dohromady tak, aby vznikl jeden snímek, který je celý zaostřený. Funkce EFI, kterou lze používat jak s ruční, tak i s motorizovanou osou Z, vytváří výškovou mapu pro snadnou vizualizaci struktury. Podle potřeby můžete také vytvořit obraz EFI v režimu offline pomocí nástroje PRECiV Desktop.

Vytváření snímků se zaostřením na každý jeho bod: EFI

Knoflíková nerovnost na integrovaném obvodu


Zachycení světlého i tmavého pole za použití HDR

Za použití pokročilého zpracování obrazu dokáže funkce osvětlení s širokým dynamickým rozsahem (HDR) přizpůsobit rozdíly v jasu obrazu a omezit tak vznik světelné reflexe. HDR přináší zlepšení vizuální kvality digitálních snímků, které umožňuje vytvářet profesionální zprávy.

Zachycení světlých i tmavých oblastí obrazu za použití HDR 01

Šipka

Zachycení světlých i tmavých oblastí obrazu za použití HDR 01

Zachycení světlého i tmavého pole za použití HDR 02

Šipka

Zachycení světlého i tmavého pole za použití HDR 02

Některé oblasti jsou příliš jasné.

Tmavé i světlé oblasti jsou jasně viditelné pod HDR.

Pole TFT je černé kvůli vysokému jasu barevného filtru.

Pole TFT je viditelné pod HDR.


Od základního měření po pokročilou analýzu

Měření je základem pro řízení kvality a procesů i pro provádění kontroly. S ohledem na tuto skutečnost nabízí i základní balíček softwaru PRECiV kompletní nabídku funkcí pro interaktivní měření, při kterém se veškeré výsledky měření ukládají společně s obrazovými soubory pro potřeby další dokumentace. Navíc řešení PRECiV Materials Solution nabízí intuitivní rozhraní orientované na pracovní postupy pro komplexní analýzu snímků. Analýzu obrazu lze rychle a přesně spustit jediným kliknutím na tlačítko. Díky výrazné úspoře času při provádění opakujících se úkonů se může obsluha soustředit na právě prováděnou inspekci.

Od základního měření po pokročilou analýzu 01

Základní měření (vzor na desce plošných spojů)

Od základního měření po pokročilou analýzu 02

Řešení pro hloubkovou účinnost (průřez otvoru v desce plošných spojů)

Od základního měření po pokročilou analýzu 03

Řešení pro automatické měření (struktura wafru)

> Získejte o softwaru PRECiV další informace


Efektivní tvorba protokolů

Vytvoření protokolu může častokrát trvat déle než samotné pořízení snímku a provedení měření. Software PRECiV nabízí možnost intuitivního vytváření protokolů, díky níž lze opakovaně generovat chytré a propracované protokoly na základě předem definovaných šablon. Provádění úprav je snadné a protokoly lze exportovat do formátů programů Microsoft Word nebo PowerPoint. Kromě toho funkce tvorby protokolů PRECiV umožňuje digitálně měnit měřítko a zvětšovat obrazy. Soubory protokolů mají rozumnou velikost, aby bylo možné data snadno sdílet prostřednictvím e-mailu.

Efektivní tvorba protokolů

> Získejte o softwaru PRECiV další informace


Pokročilý design vyhovující práci v čistých prostorech

Řada MX63 je navržena pro práci v čistých prostorech a nabízí funkce, se kterými omezíte riziko kontaminování nebo poškození vzorků. Systém se pyšní ergonomickým designem, se kterým je práce pro uživatele pohodlná i po delší době. Řada MX63 splňuje mezinárodní požadavky a normy, včetně standardu SEMI S2/S8, CE a UL.

Volitelná integrace nakladače wafrů – Systém AL120*

Volitelný nakladač wafrů je možné připevnit k výrobkům řady MX63 a bezpečně s jejich pomocí přenášet silikonové i kompozitní polovodičové wafry z pouzdra na pracovní stolek mikroskopu bez nutnosti používat pinzetu či hůlky. Díky proslulé efektivitě a spolehlivosti produktů můžete bezpečně a účinně provádět inspekci předních i zadních makro snímků a nakladač vám pomůže zlepšit produktivitu v laboratoři.

Volitelná integrace nakladače wafrů – Systém AL120

MX63 v kombinaci s nakladačem wafrů AL120 (200mm verze)

*AL120 není v EMEA k dispozici.


Rychlé a čisté inspekce

Mikroskopy řady MX63 umožňují kontrolu wafrů bez obav ze znečištění. Všechny motorizované součásti jsou umístěny ve stíněném pouzdře a rám mikroskopu, tubusy, kryt na ochranu před výdechem i ostatní části jsou ošetřeny antistatickým filmem. Otáčení motorizovaných otočných držáků objektivů je rychlejší a bezpečnější než v případě ručně ovládaných otočných držáků, což umožňuje snížit prodlevu mezi kontrolami; obsluha má přitom ruce pod úrovní wafru, což snižuje riziko znečištění.

Rychlé a čisté inspekce 01

Antistatický kryt na ochranu před výdechem

Rychlé a čisté inspekce 02

Motorizovaný otočný držák objektivů


Návrh systému umožňující efektivní pozorování

Pracovní stolek XY nabízí možnost hrubého i jemného posunu, a to díky kombinaci integrované spojky a otočných voličů XY. Pracovní stolek pomáhá zefektivnit pozorování i rozměrnějších vzorků, jako například wafrů o velikosti 300 mm.
Široký rozsah náklonu pozorovacího tubusu umožňuje obsluze zaujmout u mikroskopu pohodlnou polohu.

Design systému umožňující provádění efektivního pozorování 01

Rukojeť pracovního stolku se zabudovanou pojistkou

Design systému umožňující provádění efektivního pozorování 02

Náklon pozorovacího tubusu umožňuje pohodlné ovládání


Kompatibilita s wafry všech velikostí

Kompatibilita s wafry všech velikostí

Držáky wafrů a skleněné desky

V systému je možné použít nejrůznější typy držáků wafrů a skleněných desek v rozměrech 150–200 mm nebo 200–300 mm. V případě, že by během výroby došlo ke změně velikosti wafrů, lze rám mikroskopu za minimální náklady upravit. U řady MX63 je možné použít při inspekci různé pracovní stolky pro wafry velikosti 75 mm, 100 mm, 125 mm a 150 mm.

Sorry, this page is not available in your country
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
Sorry, this page is not available in your country