对于金属和陶瓷，晶粒度是最重要的金相测量之一，因为其对机械性能存在直接影响。使用标准化的方法来计算晶粒度，例如：

使用Jeffries平面测量法测量晶粒度

测量程序：

• 选择图像（实时或已记录）
• 选择晶粒平面测量法材料方案
• 软件根据公式和测试圆计算平均晶粒度（NA）（PRECiV软件使用整个框架而不是测试圆）
• 软件计算图像中包含的所有晶粒的表面，并给出分布图
• 该软件还提供双成分微观结构的结果

解决方案亮点：

• 由于对每一个晶粒进行单独计算，结果精确（+/- 0.1 G）
• 输出是晶粒度分布，这对多相晶粒微观结构很有用
• 该方法适用于奥氏体钢和非交织晶粒
• 软件使用整个图像而不是测试圆
• 包含学术和工业环境中常用标准的最新版本，如ASTM E112、EN ISO 643、DIN 50601等

使用Heyn截点法测量晶粒度

测量程序：

• 选择图像（实时或已记录）
• 选择晶粒截点法解决方案
• 可以编辑截点
• 软件自动统计截点晶粒数量（N）和图案截点晶粒边缘数量（P）。
• 软件自动计算数值LT
• 软件给出单一数值G

解决方案亮点：

• 由于对图案长度进行平均，结果精确（+/- 0.1 G）
• 输出是平均晶粒度值
• 精度是测得图像数量的一个函数
• 该软件可以为非等轴的微观结构提供伸长值
• 包含学术和工业环境中常用标准的最新版本

使用标准评级图对比法测量晶粒度

常见的晶粒度测量包括每单位面积/体积的晶粒、平均直径或晶粒度。晶粒度可以计算出来，也可以与标准化晶粒度图进行比较。

测量程序：

• 选择图像（实时或存储的图像）
• 选择图表导航器
• 手动选择相应的图表
• 软件对所选数值进行平均，并给出一个唯一的数值
• PRECiV软件自动纠正放大倍率的差异
• 该方法的精度为（+/- 1G）

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