金属とセラミックスにおいて、粒度は機械的性質に直接影響するため、最も重要な金属組織計測の1つです。粒度数の計算には、以下のような標準化法を使用します。

Jeffries法による粒度解析

計測手順：

• 画像を選択する（ライブまたは記録済み）
• 粒度解析（計数法）マテリアルソリューションを選択する
• 式と試験円（PRECiVソフトウェアでは試験円ではなくフレーム全体を使用）に従って、平均粒度（NA）が計算される
• 画像に含まれるすべての粒子表面が計算され、分布が表示される
• 2成分の微細構造に関する結果も表示される

ソリューションの重要点：

• 1つ1つの粒子を個別に計算するため結果の精度が高い（+/- 0.1 G）
• 出力が粒度分布であり、多相の粒子微細構造に有用
• オーステナイト鋼や絡まりを戻した粒子で良く機能する
• 試験円ではなく画像全体が使用される
• 学術および産業環境で一般的に使用される規格の最新版が組み込まれている（ASTM E112、EN ISO 643、DIN 50601など）

Heyn切断法による粒度解析

計測手順：

• 画像を選択する（ライブまたは記録済み）
• 粒度解析（切断法）ソリューションを選択する
• 交点を編集できる
• パターンと交差する粒子の数（N）と交差する粒界の数（P）が自動的にカウントされる
• 値LTが自動的に計算される
• 単一値Gが得られる

ソリューションの重要点：

• パターン長の平均化による精密な結果（+/- 0.1 G）
• 出力は平均粒度値
• 精度は計測された画像数の関数
• 非等軸微細組織の伸長値を得られる
• 学術および産業環境で一般的に使用される規格の最新版が組み込まれている

チャート比較法による粒度解析

一般的な粒度計測値には、単位面積/体積あたりの粒子、平均径、粒度数があります。粒度数を計算することも、標準化された粒度チャートと比較することもできます。

計測手順：

• 画像を選択する（ライブまたは保存画像）
• チャートナビゲーターを選択する
• 対応するチャートを手動で選択する
• 選択した値が平均化され、固有値が得られる
• PRECiVソフトウェアによって倍率の違いが自動的に補正される
• この方法の精度は（+/- 1G）

お困りですか？