Electronics

Soluzioni Olympus per l'elettronica

L'Elettronica diventa sempre più piccola e di conseguenza anche i suoi componenti. L'ispezione di microcircuiti, wafer semiconduttori e altri componenti elettronici è fondamentale perché anche il più piccolo detrito può provocare un malfunzionamento.

I produttori impiegano microscopi con ottiche di alta qualità per ispezionare le connessioni saldate nei circuiti, la condizione dei fili nei circuiti stampati e per ricercare eventuali contaminanti. In alcune applicazioni, si utilizzano microscopi confocali laser non a contatto per rilevare la ruvidità dei componenti presenti in un dispositivo e garantire la conformità a standard molto rigorosi.

Soluzioni per l'ispezione e la misurazione di un dispositivo 5G

Microscopi per la produzione dei semiconduttori

Microscopi per la produzione di PCB

Microscopi per la produzione di batterie agli ioni di litio

Ulteriori risorse

Blog

Metodi di osservazione MIX per vedere più dettagli durante l'ispezione per la ricerca di difetti in wafer

Elettricità statica e rugosità superficiale nelle pellicole: Un esperimento

Vantaggi dei microscopi laser per misurare la rugosità di fogli di rame usati in circuiti stampati per 5G

Verifica del controllo qualità (QC) nella produzione di componenti elettroniche mediante il software PRECiV™

Un modo efficiente per controllare la contaminazione per la metrologia e le ispezioni a alta produttività

5 vantaggi del microscopio digitale DSX1000

Cos'è un microscopio digitale?

ASNT 2018 Wrap Up

Da macro a micro: come i microscopi digitali stanno rivoluzionando le ispezioni industriali?

Toy Trouble: Detecting Hazardous Materials in a Popular Toy

Acquisizione di immagini di alta qualità attraverso il silicio senza danneggiare il prodotto finito

Impiego del software di analisi dell'immagine per il rilevamento automatico di particelle in tellurio di cadmio zincato

Analisi dei prodotti di consumo mediante l'analizzatore XRF portatile

La tendenza verso l'illuminazione LED nelle applicazioni di microscopia

Microscopio stereoscopico

I vantaggi di un microscopio con sistema completamente motorizzato

Ottenere il massimo risultato dall'illuminazione Köhler

Qual è l'utilità di un database di imaging?

Ottenere il massimo risultato dal proprio misuratore di spessori mediante i nuovi video formativi

 Visualizza altro

Note delle applicazioni

プリント基板（PCB）における不良解析の課題と解析事例紹介

Using a High-Resolution Digital Microscope to Perform Highly Accurate Thickness Measurements of the Internal Layer of a Multilayer Ceramic Condenser

High-precision three-dimensional measurement : Measuring the shape of microchannels with a 3D laser microscope (Japanese only)

Measuring the Circuit Shape of a Printed Wiring Board Using a Digital Microscope

Inspecting Glass Fiber Peeling in a Printed Wiring Board’s Glass Epoxy Substrate—Clear Images Are Essential for Quality Control

Individuare i difetti di produzione sui wafer semiconduttori utilizzando un microscopio digitale

Acquisizione di immagini chiare e misure precise delle dimensioni di un condensatore ceramico laminato utilizzando un microscopio digitale

Measuring the Volume of Integrated Circuit Chipping After the Dicing Process Using a Digital Microscope

Come l'ampia profondità di campo dei microscopi digitali permette l'ispezione completa dei pin dei connettori

Ispezione dei fili saldati mediante un microscopio digitale

Inspecting the Cavity Profile of Xenon Difluoride (XeF2) Etched Silicon (Si) Wafers for Suspended Antenna-Coupled Nanothermocouples

Measuring the Profile of a Bonding Wire Ball

Measuring the Thickness of Photoresist Film

Height Measurement of Microscopic Bumps on an Integrated Circuit

Measuring the shape of scratches on vehicle-mounted camera lenses

Measuring the shape of an automotive millimeter-wave radar’s circuit board

Measuring the Layer Profiles of Thin-Film Solid-State Lithium-Ion Batteries Manufactured Using the Inkjet Technique

Misurazione dell'irregolarità superficiale di un telaio di piombo per l'alloggiamento del chip

Measuring the Roughness of Lithium-Ion Battery Electrodes Using a Laser Microscope

Misurazione dell'irregolarità superficiale dei collettori con elettrodi di batteria agli ioni di litio

Using a microscope to inspect the solder wettability of mounting components

Observing the Surface Condition of Separators in Lithium-Ion Batteries Using a Scanning Probe Microscope (SPM) Combined with a Laser Microscope

Valutazione delle irregolarità delle superfici di schede di memoria

Ispezione del pattern del circuito su wafer campione

Using Image Analysis Software to Measure Throwing Power or PCB Copper Plating Thickness Uniformity

Wiring Inspections for Flexible Printed Circuit Boards (PCBs)

Misurazione del rapporto dell'area per le superfici adesive dopo il distacco bump

Contaminanti nei fori passanti della scheda a circuito stampato (PCB)

Misura delle dimensioni del nastro alveolato per condensatori

Step measurement of transparent film applied to a glass surface

Evaluating the Coating on a Smartphone Housing / Film thickness measurement and 3D surface profile measurement using a laser microscope

Roughness Evaluation of the Inner Lead of a Lead Frame / Surface roughness measurement of a micro area using a laser microscope

Valutazione del profilo della superficie di piatti diffusori per schermi LCD / Misura di forme in 3D senza contatto mediante un microscopio laser

Evaluating the Shape of the Landing Zone Pattern and Contaminants on a Hard Disk / All-in-one system of optical, laser, and probe microscope capabilities provides seamless measurement from the millimeter to nanometer level.

Profilo della superficie del piatto di guida di luce per schermi LCD / Misura di forme in 3D senza contatto mediante un microscopio laser

Quantitative Investigations of the Interconnect

Looking towards a Future of Affordable Solar Energy

Studying the Electro-mechanical Behavior of Thin Films

Misura della ruvidità superficiale del substrato di circuiti stampati flessibili mediante microscopio confocale a scansione laser Olympus OLS4100

Evaluating the Contacting Terminals of Wafer Level Chip Size Packages (CSPs) using the Olympus OLS4100 Laser Confocal Microscope

Utilizzare il microscopio laser confocale Olympus OLS5000 per misurare la rugosità dei circuiti stampati

Sectioning Analysis for Ball Grid Array (BGA) Surface Mounting of Semiconductor Package using the Olympus OLS5000 Laser Confocal Microscope

Setting standards in optical metrology at the PTB

Inspection of PGA packaging

Analisi della sezione trasversale della BGA (Ball Grid Array)

Semiconductor Bear Wafer Lasermark

Materiali alternativi per energie alternative

Maximizing Data Recovery: Utilizing 3D Digital Laser Microscopy to Image Damaged Optical Media

The Benefits of Handheld XRF for Medical Device RoHS Compliance

The future of industrial quality control

Quilt Packaging: Lining Up an Array of Opportunities

HHXRF Analyzers for Screening Consumer Goods for Lead (Pb), Cadmium (Cd) and Other Metals

 Visualizza altro

Video

RVI Tutorial Video Series—Inspection Management with the IPLEX™ NX Videoscope

IE Japan Seminar: DSX1000 Solution

IE Japan Seminar: Microscope Solution

IE Japan Seminar: Stereo Microscope and Digital Camera Solution

DSX1000: Demonstration Guaranteed The Accuracy and Repeatability

DSX1000: Demonstration Stiching Function

DSX1000: Demonstration Reproduction Function of Observation Conditions

DSX1000: Demonstration Various Observation Method With One Touch

DSX1000: Demonstration Best Image Function

DSX1000: Demonstration Free Angle Observation System

DSX1000: Demonstration Wide Field Range Observation from Macro to Micro

DSX1000: Demonstration Digest

OLS5000: Demonstration (Japanese only)

Soluzioni Olympus per l'industria elettronica

DSX1000: Video promozionale

Serie di tutorial tecnici Vanta: Guida introduttiva per il software PC Vanta

CIX100 - Technical Cleanliness Inspection System

Proper Setup of a Basic Stereo Microscope

BX3M Product Overview

Stereo Microscope Ergonomic Video

STM7 Measuring Microscope

EPOCH 650 – Panoramica

27MG – Misuratore di spessore ad ultrasuoni – Video introduttivo

Tech Tours – Microscopi industriali Olympus

OLYMPUS Stream – Moduli Material Solution

Serie OLYMPUS Inspector – Panoramica

45MG – Video introduttivo

OLYMPUS Stream – Misura dello spessore di uno o più strati

OLYMPUS Stream – Analisi delle inclusioni non metalliche

GoldXpert –Presentazione del GoldXpert

OLYMPUS Stream – Misure e immagini 3D

LEXT – Acquisizione di immagini confocali (2)

LEXT – Acquisizione di immagini confocali (1)

38DL PLUS – Panoramica

 Visualizza altro

Infografica

Vanta Infographic

SZX Ergonomic Infographic

Soluzioni

Vanta for Manufacturing QA/QC

DELTA Alloys and Metals Handheld XRF Analyzer

Webinar

Webinar - XRF as Part of a Reasonable Testing Program for Consumer Products Regulations

Cataloghi

VANTA per PMI

Specifiche del Vanta

Microscope/Optical Metrology General Overview for Industrial Applications

Remote Visual Inspection Solutions General Overview

MX63/MX63L brochure

LC30 Microscope Digital Camera

Serie Vanta

Motorized Microscope System BX61

Sistema per microscopia BX53M/BXFM

Sonde e zoccoli phased array

 Visualizza altro

Documenti tecnici

Application Considerations in Specifying High Frequency Ultrasonic Transducers

Roughness Measurement with LEXT, Laser Scanning Microscopes

Basic Principles of Laser Scanning Microscopes

 Visualizza altro

Tutorial

Ultrasonic Flaw Detection Tutorial

Tutorial sulla tecnologia phased array

Eddy Current Array Tutorial

Ultrasonic Thickness Gauge Tutorial

 Visualizza altro

FAQ

Ultrasonic Testing FAQ

Learn about microscope

Frequently Asked Transducer Questions

 Visualizza altro

Manuali

Serie Vanta Analizzatore a fluorescenza a raggi X Guida introduttiva

Libri

LEXT Roughness measurement guidebook