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Definizione degli acronimi e delle abbreviazioni sulle analisi XRF: Guida rapida di riferimento

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Acronimi sulle analisi XRF

Esistono numerosi acronimi e abbreviazioni che si potrebbero incontrare nell'ambito delle analisi a fluorescenza a raggi X (XRF). Usa questa guida rapida di riferimento per trovare il significato di quelli che potresti trovare nel nostro sito web o nell'ambito dell'attività professionale.

XRF

XRF = Analisi a fluorescenza a raggi X. Rappresenta un metodo veloce e non distruttivo per misurare la composizione elementare di un materiale. Maggior informazioni sul funzionamento delle analisi XRF è possibile trovarle qui.

Acronimi simili includono:

  • EDXRF = Analisi a fluorescenza a raggi X in dispersione di energia. Rappresenta una tecnica di analisi XRF veloce e conveniente usata nei dispositivi XRF portatili.
  • WDXRF = Analisi a fluorescenza a raggi X a dispersione di lunghezza d'onda. Rappresenta una tecnica di analisi XRF di laboratorio più costosa rispetto alla EDXRF.
  • HHXRF = Analisi XRF portatile (palmare)
  • pXRF = Analisi XRF portatile

Rilevatori

Gli analizzatori XRF portatili utilizzano due diversi tipi di rilevatori:

  • PIN = Rilevatore a diodo PIN al silicio Rappresenta una tecnologia più datata, meno efficiente e meno costosa rispetto all'SDD
  • SDD = Rilevatore a deriva di silicio. Rappresenta una più recente tecnologia in grado di contare 10 volte più di raggi X al secondo rispetto al PIN.

Scopri come decidere quale tipo di rilevatore è meglio per te.

Elementi

LE = Elementi leggeri. Gli elementi leggeri possiedono delle energie dei raggi X che hanno difficoltà a raggiungere un rilevatore di analizzatore XRF.

Gli elementi che rientrano negli LE dipendono dal contesto. In genere consideriamo i seguenti elementi misurabili dagli analizzatori XRF portatili come elementi leggeri:

  • Magnesio (Mg)
  • Alluminio (Al)
  • Silicio (Si)
  • Fosforo (P)
  • Zolfo (S)
  • Cloro (Cl)
  • Potassio (K)
  • Calcio (Ca)

Questi elementi leggeri sono misurabili solamente con un SDD.

Altre volte, si considerano LE gli elementi della tavola periodica a basso numero atomico, i quali non possono essere misurati da analizzatori XRF portatili. Questi elementi includono sodio (Na), carbonio (C), idrogeno (H) e ossigeno (O).

Analisi dei suoli mediante gli analizzatori XRF portatili

Dall'idrogeno (H) al Sodio (Na): Questi LE (evidenziati in blu) sono troppo leggeri per essere misurati con analizzatori XRF portatili. Dal Magnesio (Mg) allo Scandio (Sc): Questi elementi (evidenziati in giallo) sono eccessivamente leggeri per essere misurati con un rilevatore PIN. Per le analisi XRF portatili è necessario un rilevatore SDD.

Metodi di taratura

FP = Parametri fondamentali. Rappresenta un metodo di calcolo/taratura usato nelle analisi XRF che considera gli effetti interelementari basati sulle proprietà fisiche fondamentali degli atomi. Il metodo FP è un importante strumento per ottenere la risposta corretta quando il campione è denso, come nel caso della maggior parte dei metalli.

CN = Normalizzazione Compton. Rappresenta un metodo di calcolo/taratura per campioni a densità inferiore.

Identificazione dei materiali

PMI = Identificazione positiva dei materiali La PMI viene eseguita quando la qualità di lega è di importanza fondamentale in impianti e componenti come tubazioni, valvole, saldature e recipienti in pressione. Implica l'analisi estremamente accurata della composizione chimica di materiali per una veloce e precisa identificazione delle qualità di lega. Maggior informazioni sull'uso delle analisi XRF portatili per la PMI sono disponibili qui.

Analisi

LOD = Limiti di rivelabilità. Rappresenta il minore livello di rivelabilità della presenza di un determinato elemento. Con questi livelli molto bassi può essere complesso quantificare o attribuire un valore di grandezza relativo a un elemento.

LOQ = Limiti di quantificazione. L'LOQ risulta circa 3 volte maggiore rispetto all'LOD fornendo dei risultati numerici più affidabili.

Modelli di analizzatori Vanta

I nostri modelli di analizzatori XRF Vanta™ possiedono degli specifici acronimi composti da tre lettere per descrivere le diverse variazioni che soddisfano le necessità analitiche e applicative dei clienti.

L'acronimo composto da tre lettere si riferisce a tre importanti elementi: Vanta, serie e tipo di tubo a raggi X. Esempi: VMR, VCR, VCA e VLW. Nel primo caso: V= Vanta, M = Serie M e R = Tubo a raggi X a anodo di rodio.

Di seguito è riportato l'elenco completo di tipi di tubi e opzioni della serie Vanta:

Serie Vanta

M, C e L: Abbiamo utilizzato un numero romano per indicare il livello di costo/prestazioni (M=mille, C=cento e L=cinquanta. Maggiore è il numero romano e migliori sono le prestazioni. La serie M assicura le migliori prestazioni, a seguire la serie C e infine la serie L.

Tipi di tubi a raggi X con anodo

R = Tubo a raggi X con anodo di rodio (Rh). Ottimale per la misura di elementi leggeri. Risulta particolarmente veloce nella misura del magnesio (Mg), un elemento fondamentale nelle qualità di lega di Alluminio (Al), rendendo un tubo a raggi X con anodo di rodio la soluzione migliore per la maggior parte delle applicazioni.

W = Tubo a raggi X con anodo di tungsteno (W). L'uso del tungsteno (W) o di un materiale pesante simile è ottimale per gli elementi a alta energia come il cadmio, il quale è importante per le analisi RoHS (Restriction of Hazardous Substances - Restrizione dell'uso di determinate sostanze pericolose)

A = Tubo a raggi X con anodo di argento (Ag). Ottimale per le applicazioni generali L'argento non è così efficiente come il rodio per il magnesio o il tungsteno per il cadmio, tuttavia rappresenta un valido compromesso quando si cerca una soluzione conveniente.

Speriamo che questo elenco sia stato utile. Assicurati di salvarlo nei preferiti come facile riferimento e comunicaci se esistono altri acronimi per le analisi XRF che dovremmo includere!

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Portable Products Manager, Analytical Instruments

Ted has worked at Olympus for more than 11 years and has overseen the introduction of numerous innovations to the XRF product lines with a focus on bringing laboratory-quality data to the portable market. Ted has a Master's degree in Applied Physics and holds four patents.

dicembre 8, 2020
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