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Appareil à rayons X analysant l’or dans les bijoux

Cinq raisons d’utiliser l’analyseur de métaux précieux Vanta™ GX pour vérifier la composition des bijoux

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Méthode de lavage utilisée dans le contrôle de la propreté des composants

Description générale de la méthode de lavage utilisée lors des contrôles de la propreté des composants

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Objectifs de microscope pour inspections à haute cadence de semi-conducteurs

Conception d’un objectif pour améliorer la cadence d’inspection des semi-conducteurs

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Analyse de la propreté au microscope

Une image vaut mille mots lors des contrôles de la propreté des composants

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Sampling techniques supported by the CIX100 technical cleanliness inspector

Techniques d’échantillonnage courantes pour la réalisation de contrôles de la propreté des composants

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Opercule de pot de yaourt

Hydrophobie et rugosité de surface des films : l’exemple d’un opercule de pot de yaourt

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Microscope numérique primé

Le microscope numérique DSX1000 remporte un prix iF Design Award 2022

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Observation MIXTE

Combinez les méthodes d’observation pour en voir davantage lors de l’inspection des défauts de vos wafers

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Médaille d’or

Les médailles d’or olympiques sont-elles réellement faites d’or ?

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FlexoFORM industrial ultrasonic and phased array scanner on a pipe elbow

Cornering the Pipe Elbow Inspection Market with the FlexoFORM™ Scanner

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Recyclage des pots catalytiques

Le rôle des analyseurs XRF dans le recyclage des pots catalytiques automobiles

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Électricité statique

Électricité statique et rugosité de surface des films : une expérience

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