OmniScan X3探伤仪 | Olympus IMS

提供全聚焦方式（TFM）的OmniScan X3相控阵探伤仪信心满满，昭然可见请求演示

改进的相控阵技术

提升效率的创新特性速度是OmniScan MX2探伤仪的2倍（脉冲重复频率）单独的衍射时差（TOFD）菜单，加快了工作流程改进的快速相控阵校准，提高了用户的操作体验 800%的高波幅范围，减少了重新扫查的需要机载双晶线阵和双晶矩阵探头的支持性能，加速了创建设置的过程	了解有关OmniScan X3的更多信息	与现有的文件和设置相兼容现有的探头和扫查器与MX2/SX仪器的数据文件兼容：具有比较新旧数据的功能，并可以监控随着时间的推移而产生的变化与MX/MX2/SX仪器的设置兼容，有助于程序达到合规要求

性能可靠，操作简便

机载扫查计划减少了工作流程的步骤，还可使检测人员更轻松地了解仪器的操作程序作为检测团队中主力成员的OmniScan X3可以有效地完成各种检测应用	了解有关OmniScan X3的更多信息	得益于最大25 GB的文件容量，仪器可以无需停歇，持续扫查符合IP65评级标准，防雨防尘，提供机载GPS和可选配无线连通功能

独特创新的全聚焦方式（TFM）通过使用独特的实时TFM包络处理功能可以获得显示超微细节的TFM（全聚焦方式）图像通过使用机载AIM（声学影响图）建模工具可以提前确认覆盖区域同时显示多达4种TFM模式方便了缺陷的解读和定量了解有关OmniScan X3的更多信息

OmniScan X3

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