_{Микроскопы для применения}
в сфере производства полупроводников

Контроль внешнего вида корпуса

Для выявления дефектов эпоксидной смолы и контактных выступов необходимо осуществлять контроль внешнего вида корпуса интегральной схемы. Для этого нужен микроскоп с интуитивно простым управлением.

Наше решение

В нашем стереомикроскопе серии SZ объединены простота эксплуатации и большая глубина резкости, благодаря чему значительно упрощается процесс исследования образцов целиком.

Стереомикроскоп серии SZ Подробнее о продукте

Внешний вид корпуса

Указания по применению

Подробнее об областях применения:

Послойный анализ массива шариковых выводов (BGA) Поверхностный монтаж полупроводникового корпуса с помощью лазерного конфокального микроскопа Olympus OLS5000 Подробнее