技術情報

断面図を生成するB-スキャン

もうひとつのＢ-スキャンは、一軸に沿った試験体の詳細な断面画像を提ます。これは前に紹介し単一値によるＢ-スキャンと比べ、より多くの情報を提供します。ゲート領域内から単一測定値だけをプロットするのではなく、Ａ-スキャン波形全体が各探触子の位置でデジタル化されます。走査したラインの断面図を描く為、経過時間もしくは実際に読み込まれた探触子の位置に基づいて一連のA-スキャン波形がプロットされます。この結果、試験体表及び裏面付近の反射体の可視化が可能となります。この技術により、各位置の全波形データが画像として記憶され、追加の評価や確認の為に画像から波形データを取り出すことが出来ます。

本技術を可能にする為、デジタル化された Ａ-スキャン波形を構成する各点は信号振幅に応じた色階調で適切な深さにプロットされています。

一連のＡ-スキャン波形はデジタル化され、色に置き換えられ、さらにユーザーが設定した間隔（経過時間もしくは位置）で積み重ねられることで、実際の断面画像を生成します。

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