Usamos tecnologia de fabricação inovadora para criar lentes objetivas com abertura numérica, distância de trabalho e correção de aberração simultaneamente melhoradas. A abertura numérica (AN) alta e a distância de trabalho de 3 mm melhora o transporte da amostra, o que permite uma produtividade operacionais maior na inspeção automatizada de semicondutor. Estão disponíveis lentes 20X e 50X.
Objetivas MX planas semiapocromáticas com abertura numérica alta e distância de trabalho longa – MXPLFLN-BD
Concebidas para os métodos de observação de campo claro, campo escuro, contraste de interferência diferencial (DIC), fluorescência e luz polarizada simples
Combina uma alta NA, distância de trabalho longa e nivelamento da imagem
Disponíveis em ampliações de 20X e 50X com uma distância de trabalho de 3 mm
MXPLFLN50XBD
A MXPLFLN50XBD é nossa primeira objetiva de 50X com uma abertura numérica de 0,8 e uma distância de trabalho de 3 mm. Comparada à objetiva LMPLFLN100X, o intervalo de observação é quatro vezes maior graças à AN de 0,8 com ampliação a 50X.
MXPLFLN20XBD
A MXPLFLN20XBD é nossa primeira objetiva de 20X com uma abertura numérica de 0,55 e uma distância de trabalho de 3 mm. Sua alta NA e o alto nivelamento da imagem produzem imagens homogêneas, ideais para a união de imagens.
MXPLFLN20XBD
Especificações
Ampliação [X]
20
Abertura numérica (AN)
0,55
Distância de trabalho (DT) [mm]
3
Número de campo da objetiva
26,5
Meio de imersão
Ar/a seco
Acionada por mola
N/A
Colar de correção
N/A
Alcance de correção do colar de correção
N/A
Íris
N/A
Grau de correção de aberração cromática
Semiapocromática (FL)
Distância parfocal [mm]
45
Posição de plano focal posterior (BFP)
-8.0
Tipo de rosca
W26 × 0,706
Campo claro (refletido)
Bom
Campo claro (transmitido)
Bom
Campo escuro (refletido)
Bom
Campo escuro (transmitido)
N/A
Contraste de interferência diferencial (DIC) [refletido]
Bom
Contraste de interferência diferencial (DIC) [transmitido]
N/A
Contraste de fase
N/A
Contraste de relevo
N/A
Luz polarizada
Limitação
Fluorescência (excitação B, G)
Bom
Fluorescência UV (a 365 nm)
N/A
Multifóton
N/A
Fluorescência de reflexão interna total (TIRF)
N/A
IV
N/A
Interferometria de luz branca (WLI)
N/A
Foco automático
Bom
Transmitância/comprimento de onda
Dimensões
MXPLFLN50XBD
Especificações
Ampliação [X]
50
Abertura numérica (AN)
0,8
Distância de trabalho (DT) [mm]
3
Número de campo da objetiva
26,5
Meio de imersão
Ar/a seco
Acionada por mola
N/A
Colar de correção
N/A
Alcance de correção do colar de correção
N/A
Íris
N/A
Grau de correção de aberração cromática
Semiapocromática (FL)
Distância parfocal [mm]
45
Posição de plano focal posterior (BFP)
-8.0
Tipo de rosca
W26 × 0,706
Campo claro (refletido)
Bom
Campo claro (transmitido)
Bom
Campo escuro (refletido)
Bom
Campo escuro (transmitido)
N/A
Contraste de interferência diferencial (DIC) [refletido]
Bom
Contraste de interferência diferencial (DIC) [transmitido]