技术支持
速度
快速采集结果：高速扫描
该显微镜的扫描算法既可提高数据质量又可提高速度，从而缩短您的扫描时间，简化您的工作流程，最终实现生产力的提升。 |
PEAK算法
VLSI标准80纳米高度样品(MPLFLN10XLEXT) | OLS5000显微镜采用了用于3D数据构建的PEAK算法。该算法可获得从低倍率到高倍率的高精度数据，并可缩短数据采集时间。 |
跳跃式扫描
在测量存在近似垂直面（如电子器件或MEMS）样品上的台阶形貌时，可通过限制Z方向扫描范围缩短数据采集时间。 |
其他提高速度的技术
|
|
包括准确性保证在内的本页面信息均基于奥林巴斯设定的条件获得。
Sorry, this page is not available in your country
Let us know what you're looking for by filling out the form below.