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概览
该干涉仪适用于分析平面光学元件,尤其是在光学拾波器生产线上分析棱镜、平面镜等的透射波面和反射波面。
可测定被测物体的反射角规格
用来折射的反射平面的角度可以变更,所以可以根据被测物体的反射角规格进行测定。此外,可以在同一反射平面内测定分光器的透过波面和反射波面。
可测定405 nm带·650 nm带镜片
标准装载了405 nm和658 nm两种波长的光源,可通过简单的操作切换测定波长,可对任一方的光学元件进行评价。
可进行直线/圆偏光切换
测定在读取头光学元件中使用的具有偏光依存性的被检物时,需要进行直线/圆偏光切换。最适合进行塑料及晶体等具有复折射特性的元件的透过波面测定。
小型·高刚性
小型且高刚性的机身,充分考虑到生产现场的使用环境,所以不占空间即可进行快速质量检查。
可进行合格判断
在专用的软件中,通过可任意设置的规格值和合格判断设置功能,能够在生产线中轻松进行合格判断。
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