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概览
KIF-202L激光干涉仪是一款用于测量光学元件轮廓微观平整度的干涉仪系统。它在加工现场的生产过程中,对保障质量和检查程序扮演着不可替代的作用。
小型·操作简便
充分考虑作业现场内的使用环境,占地空间小,方便操作。
可测量倍率(1×、2.5×)
测定倍率扩大到2.5×,可简单测量小件物体。与Φ60-Φ15(可选件)的孔径转换器组合匹配使用的话,可最大扩大10倍。(平面测定时)
参照镜片λ/20 高精度
因为本社加工技术,参照镜为λ/20高精度镜片。根据客户选择的需要,也可提供λ/30 的产品。
丰富的附属备件群
我社准备了丰富的附属备件。如使用干涉条纹解析装置(KIF-FSPC/FS2000),可进行高精度条纹解析。
主要用途:
镜片研磨面的面精度的测定。
塑料成型件的面精度的测定。
各种金属切削面的面精度的测定。
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