我们X射线荧光（XRF）团队的应用科学家们出席了在瑞典哥德堡举办的2018年无损检测欧洲研讨会（ECNDT）。在研讨会上，他们探讨了一些包括筛检玻璃制品和测量涂层厚度在内的有趣的话题。
您可以查看下面的文件和演示文稿，以了解您错过的内容。
使用手持式X射线荧光分析仪测量涂层的厚度
演讲者：Karen Paklin、Peter Faulkner和Dillon McDowell
摘要
手持式X射线荧光（HHXRF）技术可用于测量涂层的厚度，与其他技术相比，这种技术在精确度和便携性方面占有优势。在较大的表面区域上进行涂层分析，通常需要使用台式仪器通过某些损坏性的操作程序来完成。手持式XRF技术克服了这个局限性，为用户提供了一种无损涂层厚度检测能力。
用户通过分析仪用户界面中内置的校准功能，可以非常方便地使用一种认证标准样品，对最多3个涂层的材料进行分析，并准确地测量这些涂层的厚度。使用手持式XRF分析仪对涂层的厚度进行测量，不需要考虑基底材料，而且可使用户自由地分析含有从钛（Ti）到钚（Pu）元素的任何沉积性涂层。由于要分析的元素范围很大，因此分析现场附近的实验室可以借助手持式XRF分析仪传送的准确结果，判断所检测的材料是否出现了腐蚀、磨损和涂层粘附等问题。
涂层分析的物理基础是朗伯比尔吸收定律，根据这个定律，X射线在刚刚进入样品的第一个涂层时，强度最高，但是随着它在涂层中的传播，强度会逐渐减小。在进入
使用手持式X射线荧光分析仪在玻璃回收流水线上筛查陶瓷和含铅的污染物
演讲者：Dillon McDowell和Alex Thurston
摘要
材料回收工厂（MRF）一般使用磁性和光学分拣系统将碎玻璃从所回收的玻璃中分离出来。但是，在从碎玻璃流水线上分拣玻璃陶瓷和含铅物质方面，这些系统不是很有效。对于玻璃制造商来说，这些含铅污染物质降低了碎玻璃的价值，因为它们会在玻璃制造过程中造成安全问题。手持式X射线荧光分析仪已经广泛地应用于各种不同的回收和制造过程中，可以快速提供多种不同元素化学成分的信息，甚至可以提供含量范围在1–10 ppm的元素成分的信息。我们将手持式XRF分析仪对准备好的玻璃样品进行检测所得到的结果，与材料回收工厂和玻璃制造商所使用的实验室测定的标准玻璃样品的值进行比较。结果表明手持式XRF分析仪甚至可以在玻璃和碎玻璃流水线的现场探测到含量很少（<100 ppm）的陶瓷元素成分。我们的结果还显示手持式XRF分析仪在碎玻璃流水线上可以探测到含铅污染物和着色剂（铁、铜等）。我们还要说明的是相同的技术可以应用于在线监控系统，以对材料流水线进行分析，并探测到陶瓷、含铅污染物和着色剂等成分。
