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ECA表层裂纹探测


奥林巴斯开发了一个用于搭接检测的创新型表层裂纹检测解决方案,从而将涡流技术应用到航空航天工业内一个尚未探知的领域。航天飞机的结构框架上包含成千上万个紧固件,因此确保这些紧固件完好无损的工作就变得异常艰巨。常规检测技术一般来说不仅非常耗时,而且探出率极大地取决于操作人员的熟练技能。不过,10多年来,这个领域的检测技术一直处于相对停滞不前的状态,……直到现在才得到改观。

使用涡流阵列技术极大地减少了检测时间,提高了检出率。这项解决方案不仅节省了人力和时间,而且其简洁合理的检测过程还有助于最大限度地减少错误的发生。

特性

  • 节省时间:较EC笔式探头检测快达10倍,较渗透检测快达15倍。
  • 无需去除漆层;操作过程更迅速、更简洁。
  • 对探头的放置要求不如笔式探头或滑动式探头那么严格。
  • 全方位探测。
  • 极佳的可重复性。
  • 已经整合到波音公司的检测程序(757 Part 6 53-30-12)
  • 简单直观、易于判读的图像。
  • 数据记录功能有助于制作专业性报告。
  • 可替代磁光成像(MOI)。

高分辨率扫描

推荐使用的型号为SBBR-026-300-032的ECA探头,宽26毫米,装有排列为两行的32个线圈。这个探头配置可提供更高的分辨率和更清晰的图像,非常适用于极高分辨率的扫描。其细小的线圈(1.6毫米直径)和高频率(80 ~ 1000 kHz)可以探测到极其细微的裂纹。这款探头还可以透过薄涂层,如标准厚度的漆层,进行扫查。使用这款探头,裂纹的方向不会影响扫查的结果,因为进行的是全方位探测。对于铁磁性紧固件,这种扫查的效率也非常高。

Sonde_CFA_SBBR026_05.psd

SBBR026-ENC探头套装

透过厚涂层进行扫查

另一种可以透过非导电性厚涂层扫查紧固件的探头型号为SEB-064-005-032。虽然这款探头不像SBBR-026-300-032款探头可以提供高分辨率,但是其低频范围(0.5~ 50 kHz)和较大的线圈可以通过较厚的非导电性涂层进行扫查,如:漆层,标签或橡胶层。因其覆盖范围宽泛(64毫米),因此一次可以扫查两排紧固件。此外,对裂纹的方向没有特殊规定,因为这款探头可以进行全方位扫查。

简单直观的图像

带有EDM刻槽的样件

C扫描

测量不同长度刻槽的性能

OS_ECA_Rivetcrack_12_Alu_1.5mm.psd

1.5毫米
铝制紧固件

OS_ECA_Rivetcrack_18_Alu_2.5mm.psd

2.5毫米
铝制紧固件

OS_ECA_Rivetcrack_13_Alu_4mm.psd

4毫米
铝制紧固件

OS_ECA_Rivetcrack_16_Fero_4mm.psd

4毫米
铁磁性紧固件

全方位探测

OS_ECA_Rivetcrack_23B.psd

OS_ECA_Rivetcrack_22.psd

无涂层

OS_ECA_Rivetcrack_22.psd

2.5毫米的非导电性涂层

Sonde_CFA_SAB064_04.psd

SEB064-ENC探头套装

Olympus IMS

Products used for this application


OmniScan MX ECA/ECT

用于进行涡流阵列检测。其检测配置支持32个传感器线圈(使用外置多路转换器可支持64个线圈),其工作模式可为桥式或发送接收式。其工作频率范围为20 Hz到6 MHz,带有一个可以在同一采集操作过程中使用多频的选项。
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