_{Микроскопы для применения}
в сфере производства полупроводников

Контроль внешнего вида лазерной гравировки

Высокая четкость лазерной гравировки очень важна, поскольку автоматические системы сортируют и размещают кристаллы ИС на основании считываемой маркировки. Однако микроскопический контроль гравировки на корпусе из черной эпоксидной смолы сопряжен с трудностями из-за бликов, возникающих от подсветки микроскопа.

Наше решение

Наш цифровой микроскоп DSX1000 способен получать четкие изображения лазерной гравировки без бликов благодаря функции расширенного динамического диапазона (HDR).

Цифровой микроскоп серии DSX Подробнее о продукте

Нормальное изображение

Изображение, полученное с применением HDR

Указания по применению

Подробнее об областях применения:

	Послойный анализ массива шариковых выводов (BGA) Поверхностный монтаж полупроводникового корпуса с помощью лазерного конфокального микроскопа Olympus OLS5000 Подробнее
	Использование микроскопа для анализа гидрофильности припоя монтируемых компонентов Подробнее