Обладая способностью проведения высокоточных трехмерных измерений широкого ряда типов образцов, система гарантирует получение достоверных данных для процедур контроля качества и технологического контроля.
Фиолетовый лазер с длиной волны 405 нм и специальные светосильные объективы позволяют рассмотреть сложные рельефы и обнаружить мелкие дефекты, невидимые для обычных оптических микроскопов, интерферометров белого цвета и микроскопов, использующих красный лазер. | ||
Красный (658 нм: 0,26 мкм, плоские и объемные образцы) | Фиолетовый (405 нм: 0,12 мкм плоские и объемные образцы) |
Специальные объективы LEXT способны с высокой точностью выполнять измерения на периферийных зонах, которые зачастую искажаются. | |
|
|
Новый МЭМС-сканер позволяет выполнять высокоточное двухплоскостное (X-Y) сканирование с низким уровнем искажений развертки и минимальными оптическими аберрациями. |
Технология сканирования 4K поддерживает разрешающую способность 4 096 пикселей — в 4 раза больше, чем в предыдущей модели — по оси X. |
Поскольку традиционные лазерные микроскопы используют стандартные методы обработки изображения (например, сглаживание для устранения шума), иногда вместе с шумом могут быть удалены точно измеренные незначительные перепады высоты. |
|
Информация на этой странице, включая заявление о гарантии точности, основана на условиях проверки качества, заданных Olympus.