Evident LogoOlympus Logo
Блог

TFM и другие преимущества дефектоскопа OmniScan X3 для специалистов НК — Отзыв клиента

By  -

Перед официальным запуском дефектоскопа OmniScan™ X3 компания Olympus передала прибор для испытания в отдел IS Expert Institut de Soudure (группы специалистов НК, базирующейся во Франции). Отдел IS Expert контролирует разработку новых методов и средств неразрушающего контроля (НК).

Эксперт по УЗК протестировал OmniScan X3 и дал свою оценку

После проведения нескольких лабораторных тестов с OmniScan X3, Мануэль Тессье, специалист по неразрушающему контролю (УЗК/TOFD), поделился своим взглядом на новые функции X3 и какие преимущества они дают дефектоскопистам. Он особо выделил такие функции, как: метод общей фокусировки (TFM), улучшенную поддержку преобразователей DLA и DMA, а также инновационный инструмент моделирования AIM (карта акустического воздействия).

Ниже приводится выдержка из статьи, появившейся в журнале Contrôles Essais Mesures (CEM) № 69.

Контроль трубы методом общей фокусировки (TFM) с использованием дефектоскопа OmniScan X3 в научно-исследовательской лаборатории Institut de Soudure

Мануэль Тессье, специалист по НК (УЗК/TOFD), тестирующий возможности визуализации TFM дефектоскопа OmniScan X3 в лаборатории Institut de Soudure (Франция)


Мануэль Тессье, специалист по НК (УЗК/TOFD) в лаборатории Institut de Soudure (Франция) [фото любезно предоставлено журналом CEM]

«Мы смогли протестировать TFM на разных образцах. Результаты убедительны.»

Мануэль Тессье, специалист в области НК (УЗК/TOFD), имел возможность первым протестировать новые функции OmniScan X3 в лаборатории Institut de Soudure. Ответы на вопросы журнала CEM см. ниже:

CEM: В Institut de Soudure вы ежедневно используете приборы OmniScan. Для каких целей?

M. Тессье: Устройства OmniScan являются для нас стандартным оборудованием. Мы ценим их за компактность, высокое качество и надежность. Все наши специалисты прошли обучение по использованию оборудования и прикладного ПО. В Institut de Soudure, мы имеем около 20 дефектоскопов такого типа. Контроль сварных швов, картирование и измерение толщины, оценка параметров дефектов, выявление различных типов повреждений: наш отдел IS Expert ежедневно использует данное оборудование, как для традиционных методов контроля (с одним преобразователем), так и для полуавтоматического и автоматического контроля сварных соединений, комбинируя методики TOFD и ФР.

«OmniScan X3 предлагает интересные возможности, а в комбинации с усовершенствованными преобразователями позволяет решать довольно специфические задачи».

CEM: Как насчет специализированных преобразователей?

M. Тессье: Да, мы также используем данный дефектоскоп с преобразователями DLA (Dual Linear Array) или DMA (Dual Matrix Array). Одним из преимуществ OmniScan X3 является простота программирования датчиков данного типа. Это было менее удобно с OmniScan MX2, который был способен управлять преобразователями, но не облегчал их программирование. OmniScan X3 предлагает интересные возможности, а в комбинации с усовершенствованными преобразователями позволяет решать довольно специфические задачи; настройки фокальных законов здесь имеют существенное значение. Конфигурация параметров позволяет детализировать контроль. Встроенные преобразователи данного типа позволяют задать параметры законов фокусировки непосредственно в дефектоскопе, что было довольно затруднительно с MX2. Для меня это огромный плюс.

CEM: Что вы думаете о методе TFM, теперь доступном в OmniScan X3?

M. Тессье: TFM также приветствуется. До сих пор мы использовали другие устройства с данным режимом обнаружения дефектов, поскольку OmniScan MX2 не мог предоставить необходимые нам данные для более точного анализа. С новым OmniScan X3 больше нет необходимости в других приборах, в частности, для обнаружения HTHA-дефектов (это избавляет от скопления нескольких устройств на рабочем месте). Мы смогли протестировать TFM на разных образцах и получили убедительные результаты. Я бы также хотел протестировать мультигрупповой режим TFM, который предлагает возможность использования до четырех групп одновременно. Функция AIM (карта акустического воздействия), которой нет в других устройствах, — еще одно преимущество нового дефектоскопа. Эта функция дает возможность моделирования луча, позволяя увидеть возможные интерференции в конкретной зоне, — что не только удобно, но и является хорошим инструментом обучения.

См. также

3 способа упростить настройку с помощью инструмента построения схемы сканирования OmniScan X3

Как вы используете наше оборудование? Поделитесь своей историей!

Технический документ: Карта акустического воздействия TFM


Оставайтесь на связи
Staff Writer

Sarah Williams worked for nearly a decade as a researcher and copywriter in the broadcast media industry. Now Sarah applies her skills as a writer and editor to produce compelling, high-quality material on topics related to Evident’s wide range of nondestructive testing (NDT) solutions. She writes about the latest remote visual, microscope, ultrasonic, eddy current, and phased array technologies. She also explores their applications and contributions to improving the quality and safety of the world around us. Sarah works at the office in Quebec City, where she resides with her partner, David, and her three children, Sophie, Anouk, and Éloi. 

Март 19, 2020
К сожалению, эта страница недоступна в вашей стране.
InSight Blog Sign-up
К сожалению, эта страница недоступна в вашей стране.
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
К сожалению, эта страница недоступна в вашей стране.