Управление контролем качества на производстве электроники с помощью программного обеспечения PRECiV™

Производители полупроводников и электронных компонентов используют промышленные микроскопы для контроля качества (КК). Микроскопы позволяют определять дефекты и отклонения от целевых технических характеристик, в частности:

• некорректное расположение компонентов на печатных платах;
• электропроводящие загрязнения на полупроводниковых пластинах, которые создают риск короткого замыкания;
• битые пиксели на сенсорах камеры и экранах.

Кроме того, они используются для подтверждения соответствия сложных компонентов международным стандартам. Микроскопическое исследование чипа памяти и полупроводниковой технологии в микропроцессоре необходимо для обеспечения строгого и надежного контроля.

Процесс КК может быть связан с финансовыми и временными затратами, поэтому производители постоянно ищут новые пути оптимизации используемых ими методов и увеличения эффективности. Выбор правильного программного обеспечения для управления микроскопами может существенно повлиять на результат КК. Важно, чтобы программное обеспечение облегчало эксплуатацию устройства и предоставляло руководство по рабочему процессу, а также обеспечивало надежные результаты и воспроизводимые измерения вне зависимости от опыта оператора.

Контроль расходов на КК с помощью нашего решения для тестирования полупроводников

Программное обеспечение PRECiV™ позволяет оптимизировать контроль продукции несколькими пользователями. Оно не только обеспечивает быстрое обнаружение несоответствий, но и способствует стандартизации методов работы с микроскопом и увеличению воспроизводимости результатов. Предлагаем вам ознакомиться с 5 особенностями программного обеспечения PRECiV, которые помогут вам управлять расходами на КК.

1. Простота в использовании и быстрое обнаружение дефектов

Простой и понятный интерфейс программного обеспечения облегчает процесс получения изображения с помощью микроскопа и запись данных даже для неопытных пользователей. Посмотрите, как легко делать снимки в высоком разрешении и исследовать их с помощью функций улучшения изображения в реальном времени программного обеспечения PRECiV, в частности настроек расширенного динамического диапазона (HDR) и функции устранения ореола:

Базовые и продвинутые инструменты 2D-измерения

Программное обеспечение PRECiV предоставляет инспекторам КК прямой доступ к комплекту различных инструментов измерения и подсчета в режиме 2D. Это базовые инструменты для измерения дефектов, в том числе расстояния, площади, диаметра, угла и определения координат, и продвинутые функции:

2. Простота комплексного исследования больших полупроводников и электроники

Программное обеспечение PRECiV предоставляет интегрированные функции управления совместимыми микроскопами, моторизованными револьверными головками и камерами микроскопов, в том числе технологией коротковолнового инфракрасного излучения (SWIR). Функции получения изображения в реальном времени расширяют возможности визуализации и позволяют исследовать большие полупроводниковые пластины и электронные компоненты целиком.

Автоматически сфокусированные панорамные изображения

Возможность получать полностью сфокусированные изображения, выходящие за рамки поля зрения ручных микроскопов, — лишь один из примеров, демонстрирующих оптимизацию функций измерения, которую обеспечивает PRECiV. С помощью моторизованных микроскопов пользователь также может использовать режим мгновенной съемки и активировать нажатием кнопки следующие автоматические функции:

• Функция расширенного фокального изображения (EFI): получение серии изображений в разных фокальных плоскостях и создание единого полностью сфокусированного изображения.
• Панорама: позволяет перемещать столик с образцом, а затем соединяет полученные снимки в одно большое изображение.
• Панорама и EFI: панорамное изображение создается автоматически параллельно с перемещением столика. Цветная рамка обозначает качество изображения. Если изображение не в фокусе, пользователь может изменить фокус в любое время.

Посмотрите, как сделать следующее:

Использовать одновременно функции EFI и панорамной съемки для получения больших, полностью сфокусированных изображений.

Различные опции наблюдения для контроля полупроводников по всей высоте

Благодаря удобному пользовательскому интерфейсу PRECiV, даже инспекторы с минимальной подготовкой могут получать и анализировать изображения с помощью методов светлого поля, темного поля, MIX (направленного темного поля), поляризации и дифференциально-интерференционного контраста (ДИК). С помощью интегрированной функции управления SWIR-камерами сторонних производителей программное обеспечение также позволяет пользователям проверять оптические компоненты с покрытием в пределах диапазона длины волны SWIR.

3. Оптимизация рабочего процесса измерения материалов

Для стандартизации и повышения эффективности контроля программное обеспечение PRECiV предоставляет специальный рабочий процесс для материалов. Пользователям, независимо от их опыта, указанные этапы покажутся четкими и простыми:

• Ручные измерения удобно использовать, и их можно загрузить при измерении серии записанных изображений.
• Комплексные ручные измерения осуществляются с помощью вспомогательных инструментов и функции автоматического распознавания границ, обеспечивающей достоверное измерение между двумя точками.^*
• Этапы рабочего процесса в специальных дополнительных решениях (например, распределение частиц, фазовый анализ) включают рекомендации, обеспечивающие высокую воспроизводимость измерений.

^*Доступно в PRECiV Pro и PRECiV Desktop.

4. Увеличение эффективности за счет широких возможностей подключения

С помощью рабочих станций PRECiV команда КК может оптимизировать и стандартизировать процедуры путем предоставления доступа к данным и настройкам по сети:

• Сохраняйте и загружайте условия визуализации вместе с каждым файлом данных изображения (включая информацию о калибровке), которые сохраняются в заголовках файлов изображений (JPEG).
• Сохраняйте параметры измерения, файлы и другие настройки (обработки, решения для материалов, аннотации и т. д.), чтобы впоследствии воспроизвести их на любой рабочей станции PRECiV.
• Определяйте права доступа, чтобы только авторизованные пользователи могли изменять параметры системы.

5. Обеспечение систематического выполнения требований разными пользователями

Программное обеспечение PRECiV поддерживает многопользовательскую среду, соответствующую требованиям безопасности и Fabs. Оно предоставляет автоматические функции, обеспечивающие соответствие всех калибровок микроскопов и измерений международным регламентам, а также исключение ошибок операторов.

• Проверка калибровки оптической цепи с помощью калибровки методом автоматического увеличения и откалиброванного микрометра с доступной для отслеживания шкалой.
• Комплект решений для материалов, содержащий инструкции для каждого этапа процесса — от получения изображения до экспорта отчетов, соответствующих международным стандартам.
• Возможность экспортировать все результаты анализа измерений в файл Excel (прямое сохранение в файл) или прямо в отчет.

Программное обеспечение PRECiV — это модульное решение, которое можно расширять в соответствии с будущими потребностями. Посетите сайт www.olympus-ims.com/microscope/preciv/ и ознакомьтесь с разными доступными пакетами программ или обратитесь к вашему местному представителю Olympus для получения дополнительной информации.

См. также

Ускорьте анализ изображений в металлургии, используя эту простую настройку

Видео: Презентация программного обеспечения PRECiV™ для анализа изображений

Скачайте брошюру: PRECiV™: легкое управление микроскопом