Evident LogoOlympus Logo
Ресурсы
Application Notes
Назад к ресурсам

Измерение шероховатости поверхности шариковых подшипников с помощью лазерного конфокального микроскопа Olympus OLS5000


Предпосылка

Шариковые подшипники используются в широком спектре оборудования, где необходимо минимизировать трение во вращающихся деталях (автомобили, велосипеды, электроприборы, промышленное оборудование). Для уменьшения сопротивления, шарикоподшипники шлифуются так, чтобы их сферичность была как можно ближе к реальной сфере, а поверхности были гладкими. Шариковые подшипники обычно изготавливаются из хрома или нержавеющей стали, также они могут быть изготовлены из керамики или латуни. Для обеспечения плавной и эффективной работы, шероховатость поверхности шарикоподшипников должна быть точно измерена в процессе производства, особенно после шлифования. Неспособность обеспечить сферичность и гладкость поверхности шарикового подшипника может привести к ухудшению его характеристик.

Решения Olympus

Лазерный измерительный (3D) микроскоп LEXT Olympus позволяет проводить бесконтактные измерения шероховатости поверхности сферических объектов, обеспечивая высокую точность результатов. В отличие от обычных измерительных приборов контактного типа, LEXT позволяет легко устанавливать место замера даже на крошечном шарике. Кроме того, LEXT фиксирует измерения шероховатости шарика в виде планарного изображения и отображает данные в 3D, предоставляя полную информацию о шероховатости подшипника. Микроскоп обеспечивает отслеживаемость измеренных значений, поэтому вы можете быть уверены в точности измерений. Высокая чувствительность к углам наклона выступов означает, что даже незначительная неровность поверхности будет точно зафиксирована.

Характеристики продукта

Микроскоп LEXT Olympus использует для исследования поверхности лазерный луч. Мощное программное обеспечение создает и записывает 3D-измерения шероховатости поверхности со сверхвысоким разрешением и исключительной точностью. Микроскоп LEXT отличается высокой чувствительностью к углам наклона профиля, обеспечивая точность измерения объектов со сложным рельефом поверхности.

Изображение

3D-измерения поверхности шарикового подшипника до 01 3D-измерения поверхности шарикового подшипника до 02

3D-измерения поверхности шарикового подшипника до 03

До шлифования

3D-измерения поверхности шарикового подшипника после 01 3D-измерения поверхности шарикового подшипника после 02

3D-измерения поверхности шарикового подшипника после 03

После шлифования

Рис. 1: 3D-измерения поверхности шарикового подшипника: До (слева) и После (справа) шлифования с использованием LEXT

Olympus IMS

Продукты, используемые для этой цели

The LEXT™ OLS5100 laser scanning microscope combines exceptional accuracy and optical performance with smart tools that make the system easy to use. The tasks of precisely measuring shape and surface roughness at the submicron level are fast and efficient, simplifying your workflow and delivering high-quality data you can trust.

К сожалению, эта страница недоступна в вашей стране.
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
К сожалению, эта страница недоступна в вашей стране.