Evident LogoOlympus Logo
Ресурсы
Application Notes
Назад к ресурсам

Шероховатость поверхности керамических деталей станков на текстильном производстве/ Измерение шероховатости поверхности на микро уровне с помощью лазерного микроскопа


Область применения

Станки, используемые для производства тканей для пошива одежды, оснащены огромным количеством направляющих для наматывания или направления нитей. Качество изготовления этих направляющих крайне важно, поскольку нити напрямую контактируют с ними на большой скорости. Если поверхность направляющей будет слишком грубая, нить может застрять и оборваться, или качество нити может ухудшиться из-за чрезмерного нагревания от трения. Поэтому необходимо выполнять количественный анализ шероховатости поверхности и дефектов (как микроскопических, так и более крупных царапин) на поверхности направляющих.
Направляющие изготавливаются из износостойкой керамики. Керамика имеет мелкие, но жесткие неровности на поверхности, которые сложно измерить с помощью традиционных контактных приборов для измерений шероховатости или 3D микро-измерительных машин, таких как интерферометры белого света. До недавнего времени такие микро-измерительные машины были единственными доступными инструментами для измерения шероховатости поверхности направляющих на станках для производства тканей. При этом не существовало инструментов для измерения шероховатости маленьких областей, в месте контакта с нитями.

Решение Olympus

3D лазерный сканирующий микроскоп Olympus LEXT позволяет выполнять бесконтактные измерения 3D форм с высоким разрешением и высокой точностью. Пользователи могут точно измерять шероховатость поверхности и глубину (или высоту) неровностей на поверхности. Микроскоп LEXT использует те же параметры шероховатости (двухмерной), что и микроскопы контактного типа, предоставляя эквивалентные результаты измерений. Помимо этого в микроскоп LEXT встроены параметры для измерения трехмерной шероховатости, отвечающие стандарту ISO25178, благодаря чему вы можете получать больше информации при анализе поверхности, чем при измерении линейной шероховатости, используя одновременно 3D изображения и числовые данные.

Поверхность направляющего валика

bar_guide_surface_objective_10x

Объектив 10Х, увеличение 1Х

bar_guide_surface_objective_100x

Объектив 100Х, увеличение 1Х

Olympus IMS

Продукты, используемые для этой цели

The LEXT™ OLS5100 laser scanning microscope combines exceptional accuracy and optical performance with smart tools that make the system easy to use. The tasks of precisely measuring shape and surface roughness at the submicron level are fast and efficient, simplifying your workflow and delivering high-quality data you can trust.

К сожалению, эта страница недоступна в вашей стране.
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
К сожалению, эта страница недоступна в вашей стране.