Amostra grande
Flexível: acomoda amostras de maior dimensão
Compatível com amostras com uma altura até 210 mm
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A estrutura de extensão para o microscópio OLS5000 acomoda amostras com uma altura de até 210 mm, enquanto a objetiva de enorme distância de trabalho facilita a medição de concavidades com uma profundidade de até 25 mm.
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Biela | Ferramenta | Cabeçote do pistão | |
Objetivas de longa distância de trabalho LEXT dedicadas
A Olympus oferece uma linha de objetivas de 10x a 100x capazes de reduzir aberrações em uma escala de 405 nm. As objetivas de baixa energia e de longa distância de trabalho também estão disponíveis nesta série. O desempenho de medição de todas as objetivas LEXT dedicadas é garantido, pelo que você pode selecionar o mais adequado para a amostra que você está observando.
Amostra de rugosidade padrão 528 pela Rubert & Co., Ltd. (Pt = 1,5 μm)
Lente de finalidade geral (50x) |
Lente dedicada LEXT (50x) |
Objetivas com distância de trabalho ultra longa
| Nossa linha de objetivas LEXT dedicadas inclui uma objetiva de 10x e objetivas de longa distância de trabalho, melhorando o desempenho de medição do microscópio. |
As informações nesta página, incluindo a garantia de precisão, se baseiam em condições definidas pela Olympus.