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Avaliação da largura da fenda da junta superior e inferior da extremidade grande de bielas com microscópio digital


Biela
Biela

Aplicação

As bielas convertem o movimento de subida e descida dos pistões nos cilindros do motor em movimento de rotação dos virabrequins. A seção da biela ligada ao virabrequim é chamada de “extremidade grande” e pode ser dividida em parte superior e inferior. Essas duas seções são conectadas por parafusos chamados parafusos de biela. A largura das fendas entre as partes superior e inferior deve estar de acordo com as especificações do projeto para assegurar que estão bem fixadas e são capazes de suportar a rotação extensiva do virabrequim. Para controlar a qualidade, deve-se realizar medições precisas da largura da fenda usando um microscópio. No entanto, as taxas de ampliação necessárias para avaliar adequadamente a largura da fenda impedem a observação da fenda completa, dificultando a localização de anomalias que seriam visíveis com a imagem global.

Solução Olympus

Observação e medição com um microscópio digital da série DSX® da Olympus e o recurso de montagem de imagem

Características do produto

  • O recurso de montagem automática produz uma única imagem de toda a extremidade grande da fenda, mesmo sob grande ampliação
  • Os resultados da medição são exibidos diretamente na tela de observação
  • A detecção automática da borda gera dados de qualidade uniformes, independente da habilidade do operador

Biela

Biela

Porção segmentada da grande extremidade

Porção segmentada da grande extremidade

Biela

Biela

Porção segmentada da grande extremidade

Porção segmentada da grande extremidade

Observação e medição com um microscópio digital da série Olympus DSX com recurso de montagem de imagem.

Observação e medição com um microscópio digital da série Olympus DSX com recurso de montagem de imagem.

Imagem montada da porção da fenda (objetiva 5X, zoom 1X)

Olympus IMS

ProductsUsedApplications

Imagens melhores, resultados mais precisos. Os microscópios digitais DSX1000 permitem uma análise de falhas mais rápida com precisão* e repetibilidade.

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