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Avaliação 3D do relevo dos interruptores da porta usando o microscópio a laser LEXT OLS5000


Medições micro usando um microscópio a laser

Coberturas de interruptor de automóvel
Revestimento dos interruptores de automóvel

(1) Aplicação

O relevo na superfície do painel de instrumentos, os bancos, o acabamento da porta e outros componentes do interior de automóveis contribuem para o valor estético do produto e influencia a satisfação do comprador.

Os botões dos interruptores da porta são um desses componentes estéticos e o material, a textura e a cor dos botões, proporcionalmente ao acabamento da porta circundante, têm uma influência significativa sobre o valor do produto global. Embora a impressão derivada das diferenças perceptíveis seja importante, os fabricantes de automóveis precisam de uma avaliação quantitativa.

(2) Solução da Olympus

A textura do relevo nos interruptores das portas pode ser avaliada através do microscópio de escaneamento a laser LEXT OLS5000 3D da Olympus, que tem capacidade para análises de rugosidade da superfície e exibição dos dados 3D com alta precisão e alta resolução. O sistema óptico a laser do microscópio LEXT OLS5000 é do tipo sem contato, mas que proporciona os mesmos parâmetros de rugosidade (bidimensionais) que os microscópios de contato, produzindo resultados compatíveis. O microscópio OLS5000 também proporciona parâmetros de rugosidade tridimensionais em conformidade com a norma ISO25178, permitindo que você obtenha mais informações do que uma simples linha de rugosidade numa avaliação de área de superfície com imagens 3D e dados numéricos. Os dados de alta resolução podem ser adquiridos para vários pontos na superfície ao salvar coordenadas de medição no modo de união de imagens, aumentando o campo de visão exponencialmente.

Imagens

(1) Amostra A (objetiva de 20X, união de imagens 3×3 de pontos de 640 µm2 para um campo de visão eficaz de: 1800 µm2)

Ponto de medição 1

Ponto de medição 1

Ponto de medição 2

Ponto de medição 2

Ponto de medição 3

Ponto de medição 3

Parâmetro Sq [µm] Sa [µm] Sz [µm]
Ponto 1 3,402 2,536 27,709
Ponto 2 4,655 3,438 36,533
Ponto 3 4,616 3,541 37,549
Média 4,367 3,299 33,438
Desvio padrão 0,647 0,519 4,527


(2) Amostra B (objetiva de 20X, união de imagens 3×3 de pontos de 640 µm2 para um campo de visão eficaz de: 1800 µm2)

Ponto de medição 1

Ponto de medição 1

Ponto de medição 2

Ponto de medição 2

Ponto de medição 3

Ponto de medição 3

Parâmetro Sq [µm] Sa [µm] Sz [µm]
Ponto 1 8,467 6,927 57,411
Ponto 2 9,235 7,576 57,320
Ponto 3 9,190 7,488 63,444
Média 8,983 7,340 59,441
Desvio padrão 0,354 0,288 2,867
Olympus IMS

ProductsUsedApplications

The LEXT™ OLS5100 laser scanning microscope combines exceptional accuracy and optical performance with smart tools that make the system easy to use. The tasks of precisely measuring shape and surface roughness at the submicron level are fast and efficient, simplifying your workflow and delivering high-quality data you can trust.

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