Descrição geral da aplicação
Fissuras induzidas por hidrogênio (HIC, na sigla em inglês) em aços suscetíveis expostos a ambientes aquosos que contêm sulfuretos de hidrogênio. Esta fissura está relacionada ao hidrogênio e pode ter duas morfologias distintas:
1. O primeiro tipo é chamado de fissura induzida por hidrogênio (HIC) e pode ocorrer quando existe pouca ou nenhuma tensão residual de tração. Ela se manifesta em forma de bolhas ou de fissuras de bolha paralelas à superfície da placa.
2. O segundo tipo causa um array de fissuras de bolha conectadas entre si na direção da espessura através das fissuras de clivagem transgranular. Este tipo de fissura é nomeado como fissura induzida por hidrogênio orientada por tensão (SOHIC, na sigla em inglês). Este tipo pode ter um efeito maior sobre a operacionalidade que o tipo HIC porque reduz de forma impressionante os recursos de capacidade de carga para um grau mais elevado.
A inspeção exige a caracterização das áreas defeituosas para diferenciar entre as inclusões pontuais, as laminações e os diferentes estágios da fissura induzida por hidrogênio.
A vantagem da varredura angular eletrônica (S-scan) realizada pelo OmniScan™ é a varredura simultânea a –30 e 30 graus. A imagiologia desta técnica de rastreamento permite ao usuário distinguir entre as indicações pontuais e defeitos interligados.
Requisitos para inspeções normais
- Recipientes de parede pesada de aço carbono
- Variação de espessura entre 10 mm e 150 mm
Vantagens da técnica Phased Array
- Imagens que permitem fácil interpretação das ligações entre os defeitos.
- Redução do tempo de configuração entre as inspeções devido à portabilidade
Tipo de defeitos
- Inclusões pontuais
- Laminações
- Evita fissuras (SOHIC)
Descrição da solução
- Inspeção manual com OmniScan™ e sonda Phased Array
- Inspeção configurada para rastreamento setorial com ondas longitudinais com ângulo refrato a –30 e 30 graus.
- Exibição em tempo real dos dados de A-scan e S-scan
- Recurso de armazenamento de capturas de tela ou arquivo de dados completo para análise em softwares para computador (TomoView™ ou OmniPC)
Equipamento necessário
- OmniScan MX, OmniScan MX2 ou OmniScan SX
- Sonda Phased Array de 5 MHz e 16 elementos
- TomoView® ou software para análise OmniPC
Método de inspeção
O rastreamento raster a 0 graus é usado para encontrar a área que possui delaminação. Em seguida, a sonda Phased Array configurada para S-scan a –30 e 30 graus é realizada manualmente nas áreas onde os defeitos foram encontrados para determinar se existe ligação entre eles.
As capturas de tela e os relatórios podem ser criados imediatamente e serem impressos posteriormente.
Dados da amostra de HIC em um recipiente em T de 55 mm
