Olympus Logo

Kontakt z nami Kontakt z nami

  • Produkty▾
    • Defektoskopy▾
      • Defektoskopy▾
        • Przenośne defektoskopy ultradźwiękowe
        • Urządzenia z głowicami sektorowymi (Phased Array)
        • Produkty prądowirowe
        • Produkty do badań techniką prądów wirowych
        • Badanie połączeń
      • Ręczne grubościomierze ultradźwiękowe▾
        • 27MG
        • 45MG
        • 38DL PLUS
        • Magna-Mike 8600
        • 35RDC
        • Głowice i Akcesoria
      • Głowice i Przetworniki▾
        • Głowice Panametrics UT
        • Sondy prądowirowe
        • Sondy do inspekcji rur
        • Głowice Wieloprzetwornikowe (Phased Array) R/D Tech
        • Sondy BondMaster
      • Zintegrowane systemy badań▾
        • Sondy do badania kół
        • Systemy inspekcji prętów
        • Systemy inspekcji rur
        • Friction Stir Weld Inspection System
      • Aparatura do automnatycznych systemów NDT▾
        • FOCUS PX / PC / SDK
        • QuickScan
      • Skanery Przemysłowe▾
        • Skanery do inspekcji spoin
        • Skanery do inspekcji korozji
        • Skanery do inspekcji podzespołów lotniczych
        • Akcesoria do skanerów
      • The Olympus Scientific Cloud
    • XRF i XRD Analizatory▾
      • Ręczne analizatory XRF▾
        • Vanta
        • Vanta Element
        • DELTA Professional
      • Kompaktowe i przenośne analizatory XRF▾
        • Vanta
        • Vanta Element
        • GoldXpert
        • Xpert do badań consumenckich/RoHS
      • Przemysłowe analizatory XRF▾
        • Vanta iX
      • Analizatory XRD▾
        • TERRA II Portable XRD Analyzer
        • BTX III Benchtop XRD Analyzer
      • Rozwiązania OEM▾
        • X-STREAM
      • Tabela zastosowań i rozwiązań
      • The Olympus Scientific Cloud
    • Rozwiązania z mikroskopami▾
      • Scanning Probe Microscopy▾
        • OLS4500
      • Laserowe mikroskopy konfokalne▾
        • OLS5100
      • Mikroskopy cyfrowe
      • Mikroskopy pomiarowe▾
        • STM7
        • STM7-BSW
      • System kontroli czystości technicznej▾
        • OLYMPUS CIX100
      • Mikroskopy świetlne▾
        • Mikroskopy pionowe
        • Mikroskopy odwrócone
        • Modular Microscopes
      • Mikroskopy do inspekcji półprzewodników i wyświetlaczy panelowych▾
        • MX63 / MX63L
        • AL120
        • AL120-12
      • Mikroskopy stereoskopowe▾
        • SZX16
        • SZX10
        • SZX7
        • SZ61/SZ51
      • Kamery cyfrowe▾
        • DP28
        • DP74
        • SC180
        • DP23
        • DP27
        • LC30
        • DP22
        • XM10
        • XM10IR
      • Oprogramowanie do analizy obrazów▾
        • OLYMPUS Stream
      • Micro Spectrophotometer▾
        • USPM-RU-W
        • USPM-RU III
      • Soczewki obiektywów▾
        • MPLAPON
        • MPLAPON-Oil
        • MPLN
        • MPLN-BD
        • MPLFLN
        • MPLFLN-BD
        • MPLFLN-BDP
        • LMPLFLN
        • LMPLFLN-BD
        • SLMPLN
        • LCPLFLN-LCD
        • LMPLN-IR/LCPLN-IR
        • Obiektyw do interferometrii w świetle białym
        • Micrometer
      • Podzespoły mikroskopowe OEM do integracji▾
        • Rozwiązania do integracji urządzeń
        • Obiektywy
        • Ramy mikroskopów optycznych
        • Soczewki super szerokie
        • Moduły mikroskopów optycznych
        • Elementy montazowe mikroskopów modułowych
      • Mikroskop — często zadawane pytania
    • Wideoskopy, boroskopy▾
      • Wideoskopy przemysłowe▾
        • IPLEX NX
        • IPLEX GAir
        • IPLEX GX/GT
        • IPLEX G Lite
        • IPLEX TX
        • Długie endoskopy IPLEX
      • Fiberoskop przemysłowy▾
        • Fiberoskopy o małej średnicy
      • Sztywny boroskop przemysłowy▾
        • Standardowe sztywne boroskopy
        • Boroskopy z pływającym pryzmatem
        • Boroskopy z pływającym pryzmatem i powiększeniem
        • MK Modułowe Mini-Sondy
        • Boskopy do silników lotniczych
      • Źródło światła
      • Oprogramowanie wspomagające inspekcję▾
        • InHelp
  • Przemysły
  • Blog
  • Multimedia
  • Wsparcie Klienta▾
    • Kontakt
    • Custom Financing Solutions
    • Same Day Shipping Program
    • Olympus Scientific Cloud
    • Akademia szkoleniowa
    • Customer Service
    • Ośrodki Serwisowe
    • Pobieranie oprogramowania
    • Ważne informacje
    • XRF and XRD Technical Support
    • Produkty Zdezaktualizowane ▾
      • FOX-IQ
    • Product Service Termination List
    • Certyfikaty ISO
    • Karty charakterystyk MSDS
    • Warunki dostaw
    • CIC
    • Olympus Technolab
    • Microscope Classroom
    • Compliance and Ethics at Olympus
  • Rentals
  • Shop
  • Wyszukaj
  • My Account
    • IMS Log in
    • IMS Registration
    • My Apps
    • My Devices
    • My Data
    • OSC Marketplace
    • My Organization
    • OSC Log in
    • OSC Log in
    • Log Out
    • Log Out
Rozwiązania dla przemysłu
Multimedia

Webinar: Advantages of Ultrasonic Thickness Gages over Flaw Detectors for Corrosion Thickness Measurements

Strona główna/ Multimedia/ Webinars/ Webinar: Advantages of Ultrasonic…

Webinar: Advantages of Ultrasonic Thickness Gages over Flaw Detectors for Corrosion Thickness Measurements

This webinar highlights the advantages of modern ultrasonic thickness gages for making corrosion thickness measurements. The presentation will focus on certain features that make thickness gages better suited than ultrasonic flaw detectors for this type of application.

Fill out the form to access the webinar

Please, choose division
Subskrybuj NDT Biuletyn, dzięki e-biuletynowi będziesz informowany o ofertach specjalnych, nowych produktach i aplikacjach.

Loading the player…
source

This webinar highlights the advantages of modern ultrasonic thickness gages for making corrosion thickness measurements. The presentation will focus on certain features that make thickness gages better suited than ultrasonic flaw detectors for this type of application.

Presenter:
Greg Bauer is a Product Specialist for ultrasonic thickness gages and transducers. He has several years' experience providing global technical and application support, training, and application development for the thickness gage and transducer product lines.

Sorry, this page is not available in your country
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
  • Kontakt z nami
  • Zapisz się do biuletynu informacyjnego
Strona główna/ Multimedia/ Webinars/ Webinar: Advantages of Ultrasonic…
Drukuj

Copyright OLYMPUS CORPORATION, All rights reserved.

Ogólnoświatowy | Terms Of Use | Privacy Statement | Cookies | | O nas | Careers | Careers | Mapa strony

Copyright OLYMPUS CORPORATION, All rights reserved.

Ogólnoświatowy | Terms Of Use | Privacy Statement | Cookies | | O nas | Imprint | Careers | Careers | Mapa strony

  • Youtube
  • LinkedIn
  • Twitter
  • Facebook

This site uses cookies to enhance performance, analyze traffic, and for ads measurement purposes. If you do not change your web settings, cookies will continue to be used on this website. To learn more about how we use cookies on this website, and how you can restrict our use of cookies, please review our Cookie Policy.

OK
Cancel

Redirecting

You are being redirected to our local site.