Szkolenie przyszłych inspektorów badań nieniszczących we Włoskim Instytucie Spawalnictwa

Pod koniec 2019 r. wprowadziliśmy na rynek defektoskop OmniScan™ X3 — zaawansowane, a zarazem łatwe w obsłudze narzędzie do badań ultradźwiękową techniką Phased Array (PAUT). Wszechstronność tego przyrządu, który oferuje m.in. funkcję umożliwiającą prowadzenie inspekcji metodą TFM, daje inspektorom pewność, której potrzebują przy podejmowaniu decyzji.

Członkowie kadry Włoskiego Instytutu Spawalnictwa (Istituto Italiano della Saldatura (IIS)), wieloletni użytkownicy naszego sprzętu do badań nieniszczących, jako jedni z pierwszych wypróbowali defektoskop OmniScan X3. Instytut IIS obejmuje stowarzyszenie non-profit i trzy spółki z ograniczoną odpowiedzialnością, które prowadzą działalność certyfikacyjną (IIS CERT), szkoleniową (IIS PROGRESS) i usługową (IIS SERVICE) z myślą o inżynierach we Włoszech i za granicą.

Za organizację szkoleń odpowiedzialny jest Simone Rusca, kierownik działu kontroli i inspekcji w instytucie IIS, który opowiedział nam o pracy w instytucie. „Pierwszy kurs szkoleniowy z ramienia instytutu IIS zorganizowano w 1951 roku. Obecnie szkolimy około 1000 osób rocznie, m.in. inżynierów spawalników, inspektorów spawalnictwa oraz operatorów przyrządów do badań NDT na poziomie 1–3. Uczestnicy naszych kursów działają w różnych sektorach; najczęściej w przemyśle naftowym i gazowym, ale także w sektorze budowlanym, kolejowym, samochodowym, morskim, lotniczym i kosmicznym”.

Korzyści z prowadzenia szkoleń przy użyciu zaawansowanego sprzętu

Sprzęt firmy Olympus jest wykorzystywany w instytucie IIS od około 20 lat. Simone Rusca podkreśla: „Naszym celem zawsze było prowadzenie szkoleń przy użyciu najnowocześniejszego sprzętu, gdyż jest to bardzo korzystne dla uczestników naszych szkoleń. Na szkoleniach korzystamy nie tylko z defektoskopu OmniScan X3, ale także z nowych, dostarczonych przez firmę Olympus komponentów, głowic i oprogramowania”.

„Nasi specjaliści zajmujący się badaniami nieniszczącymi (NDT) bardzo chwalą sobie pracę z nowym sprzętem. Aktualnie pracujemy z defektoskopem X3 z dwoma różnymi głowicami: 32- lub 64-przetwornikową głowicą o liniowej matrycy. Badania wykonujemy metodą Phased Array i metodą akwizycji pełnej macierzy (FMC). Podczas szkoleń prezentujemy czułość i łatwość użycia tych nowych technik i sprzętu. Opinie uczestników szkoleń, ale także naszych instruktorów, są bardzo pozytywne — sprzęt świetnie nadaje się do podnoszenia umiejętności”.

Simone Rusca wyjaśnia: „Kolejną kluczową zaletą defektoskopu OmniScan X3 jest uniwersalność jego funkcji — sprawdza się on w wielu różnych zastosowaniach. Uczestnicy szkoleń zwykle pracują z różnorodnymi komponentami, wskazaniami i wadami. Defektoskop OmniScan X3 doskonale nadaje się do wszystkich tych zastosowań”.

Szkolenia na temat metody TFM

Defektoskop OmniScan X3 w pełni obsługuje metodę TFM. Inspekcja komponentów metodą TFM zapewnia lepszą przejrzystość i rozdzielczość obrazów, co ułatwia detekcję wad o małych rozmiarach, takich jak uszkodzenia spowodowane przez wysokotemperaturowy atak wodorowy (HTHA). Defektoskop OmniScan X3 umożliwia wyświetlanie obrazu w czterech trybach TFM jednocześnie, ułatwiając interpretację danych i wymiarowanie wad.

Defektoskop OmniScan X3 z funkcją TFM

Simone Rusca tak wypowiada się o metodzie TFM: „Podczas naszych szkoleń korzystamy z metody TFM, a nasi technicy są bardzo zadowoleni z faktu, że jest ona już dostępna w defektoskopie X3. Kluczowym wyzwaniem, które nieodłącznie wiąże się z nowymi metodami, takimi jak metoda TFM, jest jednak fakt, że nie są one jeszcze dobrze znormalizowane. Często trudno jest więc udzielić konkretnej odpowiedzi, ponieważ nie są dostępne dane dotyczące wewnętrznych porównań między wynikami uzyskanymi metodą TFM a wynikami z procedury referencyjnej. Niemniej jednak w kategoriach bezwzględnych metoda ta charakteryzuje się bardzo dobrą czułością”.

Silne, oparte na współpracy relacje

Ścisła współpraca pomiędzy firmą Olympus a instytutem IIS jest korzystna dla obu stron. Instytut IIS zatrudnia wielu wysoko wykwalifikowanych inspektorów NDT, którzy posiadają dużą wiedzę teoretyczną i praktyczną. Ich spostrzeżenia i doświadczenie w dziedzinie badań nieniszczących i obsługi sprzętu pomagają firmie Olympus lepiej zrozumieć potrzeby swoich klientów.

Simone Rusca dodaje: „Myślę, że ta relacja pokazała zalety połączenia dążenia do doskonałości w obu dziedzinach — prowadzeniu szkoleń i projektowaniu oprzyrządowania. Stale śledzimy nowe technologie, rozwiązania i wskazówki dotyczące ulepszania metod NDT —i bardzo cenimy sobie wkład firmy Olympus”.

Powiązane treści

Wyjaśniamy 3 najważniejsze udoskonalenia technik FMC/TFM w nowym defektoskopie OmniScan X3

Metoda TFM i inne zalety defektoskopu OmniScan X3 w pracy inspektorów zajmujących się badaniami z wykorzystaniem metod nieniszczących — recenzja klienta

Wszystkie wady widoczne na pierwszy rzut oka — wiarygodne obrazowanie metodą TFM