Evident LogoOlympus Logo
InSight Blog

Trend do przechodzenia na oświetlenie LED w zastosowaniach mikroskopowych

By  -

Wraz z rozwojem technologii pojawiają się nowe sposoby wykorzystania źródeł światła LED

Uzyskanie obrazu mikroskopowego nie byłoby możliwe bez światła. Wybór odpowiedniego źródła światła jest kluczowy, aby rozróżnić drobne szczegóły próbki. Tradycyjnie w mikroskopii metodą światła przechodzącego i odbitego stosowano lampy halogenowe. W przypadku mikroskopii fluorescencyjnej zwykle używano źródeł światła o dużym natężeniu, takich jak lampy ksenonowe lub rtęciowe. W ostatnich latach jednak tendencja na rynku mikroskopii zmienia się — zamiast lamp halogenowych i rtęciowych stosowane są źródła światła LED, które zapewniają szereg korzyści w zakresie wysokiej intensywności i emisji bliskiej podczerwieni w porównaniu z tradycyjnymi źródłami światła.

Światło LED — nowa norma

Dzięki udoskonaleniu technologii LED w ciągu ostatnich kilku lat na całym świecie odnotowywano tendencję zniżkową na rynku lamp halogenowych. W odróżnieniu od lamp halogenowych, diody LED są w stanie utrzymać stałą temperaturę barw przy zmianie natężenia światła. Zapewnia to stałą kolorystykę próbki zarówno przy obserwacji przez okulary, jak i w przypadku obrazowania za pomocą kamery cyfrowej. Poziom intensywności diod LED jest zbliżony do poziomu intensywności lamp halogenowych, ale zużywają one znacznie mniej energii i mają dłuższą żywotność. Przyjazność dla środowiska to kolejna zaleta diod LED, ponieważ eliminują one konieczność wymiany lub utylizacji żarówek. Ponadto diody LED są bardziej stabilne i generują mniej ciepła niż lampy halogenowe, co w kontekście mikroskopii jest ważne podczas obserwacji próbek wrażliwych na temperaturę. Technologia LED nadal rozwija się wraz ze wzrostem zapotrzebowania na oświetlenie LED, co skutkuje zwiększeniem jasności oświetlenia, zmniejszeniem rozmiarów diod i obniżeniem ogólnych kosztów.

Nowe sposoby wykorzystania technologii LED

Firma Olympus opracowała dwa nowe sposoby oświetlania nieprzejrzystych próbek za pomocą diod LED. Pierwszy z nich to kierunkowe oświetlenie metodą ciemnego pola. W kierunkowym oświetleniu metodą ciemnego pola wykorzystywany jest suwak oświetleniowy, który zawiera 16 diod LED ułożonych w okręgu. Diody LED oświetlają próbkę kierunkowo pod kątem, podobnie jak przy tradycyjnym oświetleniu metodą ciemnego pola, ale zapewniają większą elastyczność dzięki różnym geometriom segmentów, kątom, które można ustawiać krokowo, i poziomom intensywności. Dzięki tej elastyczności użytkownicy mogą uwidocznić wady trudne do zauważenia przy oświetleniu metodą jasnego pola, a także odróżnić uniesione powierzchnie od zagłębień.

Drugą nową opcją oświetlenia jest oświetlenie metodą MIX. Metoda MIX stanowi połączenie kierunkowego oświetlenia metodą ciemnego pola z inną tradycyjną metodą oświetlenia, taką jak obserwacja w jasnym polu, w świetle spolaryzowanym lub w świetle fluorescencyjnym. W celu uwidocznienia wszystkich kluczowych elementów niektórych struktur wymagane jest wysoce precyzyjne skorygowanie kontrastu. Użytkownicy mogą na jednym obrazie porównać to, co zauważyli przy użyciu tradycyjnych metod kontrastowych, z nowymi elementami ujawnionymi przy obserwacji metodą kierunkowego oświetlenia metodą ciemnego pola. Jest to pomocne przy definiowaniu konturów i poprawianiu kontrastu w analizie opartej na wartościach progowych oraz przy wizualizacji dwóch różnych materiałów obecnych w tej samej próbce. Interesujące jest również połączenie kierunkowego oświetlenia metodą ciemnego pola i fluorescencji, ponieważ umożliwia ono jednoczesne obrazowanie zarówno obszarów fluorescencyjnych, jak i niefluorescencyjnych w celu przyspieszenia analizy.

Obserwacja metodą jasnego pola (po lewej), obserwacja przy kierunkowym oświetleniu metodą ciemnego pola (pośrodku) i obserwacja przy oświetleniu metodą MIX (po prawej).

Associate Product Manager

Since joining Olympus in 2016, Xin has been responsible for the Olympus OEM business and customized scientific solution business in the Americas. She holds a Ph.D. in optical engineering and specializes in advanced microscopy technologies, optical component integration and applications, and customized optical solutions. 

luty 23, 2017
Sorry, this page is not available in your country
InSight Blog Sign-up
Sorry, this page is not available in your country
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
Sorry, this page is not available in your country