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Basics of X-ray Fluorescence (XRF) for Positive Material Identification (PMI)

Basics of X-ray Fluorescence (XRF) for Positive Material Identification (PMI)

X-ray fluorescence (XRF) has extensive applications in the inspection services market. It is fundamental for positive material identification (PMI) for in-the-field and plant maintenance. This talk explores the basics of XRF theory, and the application of XRF for positive material identification (PMI) and weld inspection. Special attention is given to relevant applications of this technology in the oil and gas (O&G) sector. Testing methods, sample considerations, and strategies and tools for data management are discussed.

전문가
학술 지원

Michael은 분석 장비 사업부에서 학술 고문을 담당하고 있습니다. 그는 매일 XRF 사용자가 개별 솔루션을 찾을 수 있도록 지원합니다. Michael은 노트르담 대학교에서 무기화학 박사 학위를 받았으며, 신소재 합성에 관한 논문을 작성했습니다. 그는 구조적 특성화, 조성 결정 및 분석 식별을 위해 X선 기술을 활용합니다. 그는 Olympus에 합류하기 전 노스웨스트 미주리 주립 대학교의 교직원이었으며, 라이스 대학교와 콜로라도 광업 대학교에서 객원 연구원으로 활동했습니다.

2024년3월29일
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