Olympus Logo

연락처 연락처

  • 제품▾
    • Thickness and Flaw Inspection Solutions▾
      • 결함 탐상기/위상 배열 결함 탐상기▾
        • Ultrasonic Flaw Detectors
        • Phased Array
        • Eddy Current Products
        • Eddy Current Array Products
        • BondTesting
      • 두께 측정기▾
        • 27MG
        • 45MG
        • 38DL PLUS
        • Magna-Mike 8600
        • 35RDC
        • Transducers and Accessories
      • 탐촉자 및 프로브▾
        • Single and Dual Element Transducers
        • Eddy Current Probes
        • Probes for Tube Inspection
        • Phased Array Probes
        • BondMaster Probes
      • 통합 검사 시스템▾
        • Wheel Inspection System
        • 철근 검사 솔루션
        • Tube Inspection Systems
      • NDT 시스템 계측기▾
        • FOCUS PX / PC / SDK
        • QuickScan
      • 산업용 스캐너▾
        • Weld Inspection Scanners
        • Corrosion Inspection Scanners
        • Aerospace Inspection Scanners
        • Scanner Accessories
    • XRF and XRD Analyzers▾
      • 휴대용 XRF 분석기▾
        • Vanta
        • Vanta Element
        • DELTA Professional
      • 소형 휴대용 XRF 분석기▾
        • Vanta
        • Vanta Element
        • GoldXpert
        • Xpert for Consumer/RoHS
      • Process XRF Analyzers▾
        • FOX-IQ
      • XRD 분석기▾
        • TERRA II Portable XRD Analyzer
        • BTX III Benchtop XRD Analyzer
      • OEM Solutions▾
        • X-STREAM
      • Applications and Solutions Key
    • 현미경 솔루션▾
      • Scanning Probe Microscopy▾
        • OLS4500
      • 레이저 컨포칼 현미경▾
        • OLS5000
      • 광학 디지털 현미경
      • 측정(공구) 현미경▾
        • STM7
        • STM7-BSW
      • Cleanliness Inspector▾
        • OLYMPUS CIX100
      • 광학 현미경▾
        • 정립 금속 현미경
        • 도립 현미경
        • 모듈 현미경
      • 반도체&FPD 검사용 현미경▾
        • MX63 / MX63L
        • AL120
        • AL120-12
      • 실체 현미경▾
        • SZX16
        • SZX10
        • SZX7
        • SZ61/SZ51
      • 디지털 카메라▾
        • DP74
        • SC180
        • UC90
        • DP27
        • SC50
        • LC30
        • DP22
        • XM10
        • XM10IR
      • 이미지 분석 소프트웨어▾
        • OLYMPUS Stream
      • 마이크로 분광광도계▾
        • USPM-RU-W
        • USPM-RU III
      • 대물 렌즈▾
        • MPLAPON
        • MPLAPON-Oil
        • MPLN
        • MPLN-BD
        • MPLFLN
        • MPLFLN-BD
        • MPLFLN-BDP
        • LMPLFLN
        • LMPLFLN-BD
        • SLMPLN
        • LCPLFLN-LCD
        • LMPLN-IR/LCPLN-IR
        • White Light Interferometry Objective
        • Micrometer
      • OEM Microscope Components for Integration▾
        • 장비 통합 솔루션
        • 대물렌즈
        • 광학 현미경 프레임
        • 초광각 튜브 렌즈
        • 광학 현미경 모듈
        • 모둘화 현미경 어셈블리
      • Microscope FAQ
    • 산업내시경 검사▾
      • 산업용 Videoscope▾
        • IPLEX NX
        • IPLEX GX/GT
        • IPLEX G Lite
        • IPLEX TX
        • IPLEX YS
        • IPLEX Long Scope Solution
      • 산업용 Fiberscope▾
        • 초소형 Fiberscope
      • 산업용 Borescope▾
        • 기본형 Rigid Borescope
        • Swing Prism Borescope
        • Zoom Swing Prism Borescope
        • 모듈형 MK Mini-Scope
        • 항공엔진 검사용 Borescope
      • 광원
      • 관찰 지원 소프트웨어▾
        • InHelp
  • 산업분야
  • Blog
  • 멀티미디어
  • 고객지원▾
    • 문의처
    • Olympus Scientific Cloud
    • 교육 아카데미
    • Customer Service
    • 서비스 센터
    • 소프트웨어 다운로드
    • Important Notices
    • 단종 제품
    • Product Service Termination List
    • ISO 인증
    • MSDS Datasheets
    • Terms and Conditions of Supply
    • CIC
    • Olympus Technolab
    • Microscope Classroom
    • Compliance and Ethics at Olympus
    • Same Day Shipping Program
    • Financial Services
  • Rentals
  • Shop
  • 탐색
  • My Account
    • IMS Log in
    • IMS Registration
    • My Apps
    • My Devices
    • My Data
    • OSC Marketplace
    • My Organization
    • OSC Log in
    • OSC Log in
    • Log Out
    • Log Out
산업 솔루션

Scanning Probe Microscopy

홈/ 제품/ Scanning Probe Microscopy

Integrating a traditional optical microscope with an excellent laser scanning microscope (LSM) and a nanometric-scale scanning probe microscope (SPM), the OLYMPUS LEXT OLS4500 is compatible with a wide range of samples, providing a total observation/measurement solution for a new era.

LEXT OLS4500

LEXT OLS4500은 광학 현미경, 레이저 현미경(LSM), 프로브 현미경(SPM)을 한 대에 결합한 복합 현미경입니다. 관찰 배율은 수십 배에서 수백만 배까지 광범위한 영역을 커버하고 관찰 포인트를 잃는 일 없이 원활하게 밀리미터부터 나노미터까지 관찰 및 측정이 가능합니다.

제품 보기

Sorry, this page is not available in your country
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
  • 연락처
  • Thickness and Flaw Inspection Solutions
  • XRF and XRD Analyzers
  • 현미경 솔루션
    • Scanning Probe Microscopy
      • OLS4500
    • 레이저 컨포칼 현미경
    • 광학 디지털 현미경
    • 측정(공구) 현미경
    • Cleanliness Inspector
    • 광학 현미경
    • 반도체&FPD 검사용 현미경
    • 실체 현미경
    • 디지털 카메라
    • 이미지 분석 소프트웨어
    • 마이크로 분광광도계
    • 대물 렌즈
    • OEM Microscope Components for Integration
    • Microscope FAQ
  • 산업내시경 검사
  • 뉴스레터 신청
홈/ 제품/ Scanning Probe Microscopy
인쇄

Copyright OLYMPUS CORPORATION, All rights reserved.

글로벌 | Terms Of Use | Privacy Statement | Cookies | 회사소개 | Careers | Careers | 사이트맵

Copyright OLYMPUS CORPORATION, All rights reserved.

글로벌 | Terms Of Use | Privacy Statement | Cookies | 회사소개 | Imprint | Careers | Careers | 사이트맵

  • Youtube
  • LinkedIn
  • Twitter
  • Facebook

This site uses cookies to enhance performance, analyze traffic, and for ads measurement purposes. If you do not change your web settings, cookies will continue to be used on this website. To learn more about how we use cookies on this website, and how you can restrict our use of cookies, please review our Cookie Policy.

OK
Cancel