디테일 보기
복잡하지 않은 샘플 준비로 고배율의 선명한 이미지를 획득합니다.
1100x magnification
Sample: IC patterns on a semiconductor wafer
See the fine IC patterns and tiny defects on a wafer with sharp detail.
【샘플 애플리케이션】 
반도체 베어 웨이퍼 레이저 마크
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| 관찰된 샘플 
반도체 웨이퍼 |
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원클릭에 의한 전환 관찰 기법
단 한번 클릭으로 최대 유연성을 위한 5가지 관찰 방법 간 전환이 가능합니다.
Darkfield observation
Sample: An IC chip on a UV sensor
Observe metal parts such as bonding wires and lead frames.
Brightfield observation
Sample: An IC chip on a UV sensor
The IC chip's pattern can be observed with a crisp image.
MIX observation (darkfield + brightfield)
Sample: An IC chip on a UV sensor
The IC chip and metal parts can be viewed at the same time by combining brightfield and darkfield images.
【샘플 애플리케이션】 
인쇄 회로 기판 스루홀의 오염물질
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| 관찰된 샘플 
UV 센서 |
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3D 이미지
모든 각도에서 3차원으로 샘플 보기
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샘플: 인쇄 회로 기판의 핀
3D로 투사한 핀의 모양 보기.
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【샘플 애플리케이션】 
열처리된 알루미늄 합금 부품의 결함 검출
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| 관찰된 샘플 
인쇄 회로 기판 |
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복잡한 형상을 실시간으로 측정
3D 측정을 이용하여 DSX 현미경은 관찰하기 어렵거나 복잡한 샘플 및 형상을 즉시 측정할 수 있습니다.
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샘플: MEMS
MEMS의 작은 틈을 실시간으로 어떠한 방향에서도 측정할 수 있습니다.
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【샘플 애플리케이션】 
볼 그리드 배열의 절단 분석
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| 관찰된 샘플 
MEMS |
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