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메모리 카드의 표면 거칠기 평가


레이저 현미경을 통한 마이크론 크기 형체 계측

메모리 카드
메모리 카드

(1) 애플리케이션

메모리 카드는 다양한 크기를 가지고 있으며, 디지털 카메라, 휴대전화, 녹화기 등의 장치에서 저장 매체로 사용됩니다. 메모리 카드는 해당 장치의 슬롯에 삽입되며, 카드의 표면 거칠기는 삽입의 부드러움 수준에 영향을 미칩니다. 카드의 표면 거칠기는 카드의 상업적 가치에 기여하기 때문에 품질 관리 계측 기준으로 사용됩니다. 기존 거칠기 테스터를 통한 품질 관리는 테스터가 대상 표면과 직접 접촉해야 한다는 한계와 오직 특정 선 상의 높이(거칠기)만을 계측한다는 한계를 가지고 있습니다.

(2) 솔루션

Olympus LEXT OLS5000 3D 스캐닝 레이저 현미경은 대상 표면과 접촉하지 않고 정밀한 고해상도 프로필 계측을 하는 것이 가능합니다. 사용자는 컨포칼 광학 시스템을 통해 선명한 고해상도 이미지를 얻을 수 있습니다. 시스템은 ISO 25178에 따라 3D 거칠기 매개변수를 사용하여 비접촉식 표면적 평가를 실행합니다. 넓은 표면 평가는 무작위 결함에 파악에 더 적합하며, 선을 따라 계측하는 기존 거칠기 테스터 대비 많은 계측 정보를 제공합니다. OLS5000 현미경에는 계측 좌표 등록과 이미지 합성 기능을 사용하여 표면 상의 여러 지점을 계측하는 표준 자동 스테이지 기능이 적용되어 있습니다.

이미지

(1) 샘플 A(대물 렌즈: 20X. 유효 시야: 640 µm)

계측 지점 1

계측 지점 1

계측 지점 2

계측 지점 2

계측 지점 3

계측 지점 3

매개변수 Sq [µm] Sa [µm] Sz [µm] Sku [µm]
지점 1 3.5 2.897 26.501 2.518
지점 2 3.766 3.033 30.446 2.966
지점 3 3.626 2.955 25.5 2.741
평균 3.631 2.962 27.482 2.742
표준 편차 0.133 0.068 2.615 0.224


(2) 샘플 B (대물 렌즈: 20X. 유효 시야: 640 µm)

계측 지점 1

계측 지점 1

계측 지점 2

계측 지점 2

계측 지점 3

계측 지점 3

매개변수 Sq [µm] Sa [µm] Sz [µm] Sku [µm]
지점 1 1.608 1.259 17.946 3.833
지점 2 1.579 1.241 18.158 3.86
지점 3 1.646 1.296 22.166 3.936
평균 1.611 1.265 19.423 3.876
표준 편차 0.034 0.028 2.378 0.053
Olympus IMS

이 애플리케이션에 사용되는 제품

LEXT™ OLS5100 레이저 스캐닝 현미경은 뛰어난 정확도와 광학 성능을 스마트 도구와 결합하여 시스템을 간편하게 사용할 수 있도록 합니다. 미크론 단위 미만 수준에서도 형상과 표면 거칠기를 정확하게 측정하는 작업은 신속하고 효율적이어서 워크플로를 단순화하고 신뢰할 수 있는 고품질 데이터를 제공합니다.

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