|
高精度厚さ計モジュールTGMは、材料の厚さおよび伝播時間（TOF）をサブミクロン単位まで測定表示可能にした超音波データ収集システムです。厚さ測定でμm以下の分解能、TOF計測でピコ秒（ps）の分解能が必要という、用途上厳しい使用条件を念頭に置いて開発されました。この高性能ベンチトップシステムは、優れた超音波計装およびScanView Plusデータ処理ソフトウエアを使用して、これまでにない精度を提供します。
主な特長 - 0.012mm（0.0005インチ）の薄さのポリマーコーティングやプラスチックバリア層の測定が可能
- サブミクロン分解能による厚さ測定
- TOFをpsの分解能で測定
- 50kHz～400MHzの周波数測定レンジ
- 多層測定では、1チャンネルあたり最大32の測定値を表示
- 測定値を標準スプレッドシートパッケージに簡単に転送可能
このシステムは、安定したTOF測定ができ、分解能は2GS/sの場合で最大100psです。TGMシステムは、物質音速値の増分変化をはじめとする物質分析用途で役立ち、密度や弾性のわずかな変化を定量的に測定することができます。高性能なScanView Plusソフトウエアを使用すると、測定データを表形式や図形マトリックスで表示したり、標準のスプレッドシートに転送することができます。TGMは、従来のポータブル厚さ計と比較して極めて優れています。
TGMシステムには、コンピュータ、デジタイザカード、パルサーレシーバおよびScanView Plusソフトウエアが装備されています。また、TGMシステムがサポートする装置セットアップメニューを使用すると、複数のパルサーレシーバが設定できます。システムごとの要件に従ってカスタマイズできます。
|
このページはお住まいの地域ではご覧いただくことはできません。
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
Redirecting
You are being redirected to our local site.
このページはお住まいの地域ではご覧いただくことはできません。
