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ニッケルラテライトの探査、グレード管理、および処理用ポータブル蛍光X線分析計


オリンパスのポータブル蛍光X線(pXRF)分析計は、土壌、岩石、鉱石の多元素分析に必要な地質科学データをリアルタイムで提供します。 pXRF技術における近年の大きな進歩により、測定可能な元素種の数と検出限界が大幅に改善され、分析時間も短縮されました。pXRFは、ニッケルラテライトの探査や鉱化作業において効果的な方法として活用されています。 予備調査の掘削、トレンチ、表面試料採取、保有量検証に日常的に使用されるほか、精鉱品に対しても使用されます。

ニッケルラテライトの地質調査

ニッケルは、ニッケルラテライト鉱床と マグマ(火山性)鉱床の2種類の鉱床から採掘されます。 ニッケルラテライトにはニッケル埋蔵量の約70%が含まれていますが、これまでほとんどのニッケルは硫化ニッケルから生産されています。この状況は、硫化ニッケルの埋蔵量が激減し、ニッケルの世界的消費量が年々増加の一途をたどるにつれて変わりつつあります。 ニッケルラテライト採掘がもたらすもう1つの魅力的な副産物はコバルト含有物であり、バッテリー用金属需要の急増によってその価値は特に高まっています。

ニッケルラテライトは、ニッケルを含有する超苦鉄質岩盤が激しく風化すると形成され、湿潤、温暖、熱帯の環境で長期にわたって化学的・機械的に風化されて形成されます。 ニッケルラテライト鉱床は数百メートルを超える長い板状の形態ですが、深さは数十メートルに過ぎません。 こうした鉱床は予測可能な風化断面から構成され、以下に示す5つの「ゾーン」が含まれます。風化されていない超苦鉄質岩盤、風化された岩盤(「サプロライト」)、粘土質層、リモナイトゾーン、フェリクラスト(「アイアンキャップ」)です。

ニッケルラテライトの地質調査
Olympus IMS
この用途に使用される製品

ハンドヘルド蛍光X線分析計VANTAは、耐久性に優れた堅牢設計により、さまざまな検査環境に対応します。オリンパス独自の新技術により高いX線カウントレートを実現し、高精度で優れた再現性のデータを取得することができます。さらに、使いやすい操作性と多様な機能により、ユーザーの生産性を高め、検査効率の向上に貢献します。
地質・鉱物調査用のハンドヘルド蛍光X線分析計VANTAは、鉱物探査や鉱石の品位とプロセス管理、環境修復調査のための元素分析を、調査の現場で行うことができます。
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